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仕様最小曲率:3mm、最小領域:Φ5mm、基盤の臨界厚さ:0.3mm 測定方式渦電流 分解能0.1um 測定範囲(μm)0-1250 測定誤差±(3%H+1.5)um(1点校正)・±[(1~3)H%+1.5]um(2点校正)
1台
31,980 税込35,178
10日以内出荷

仕様最小曲率:1.5mm、最小領域:Φ7mm、基盤の臨界厚さ:0.5mm 測定方式磁気誘導 分解能0.1um 測定範囲(μm)0-1250 測定誤差±(3%H+1)um(1点校正)・±[(1~3)H%+1]um(2点校正)
1本
31,980 税込35,178
10日以内出荷

仕様最小曲率:凸面1mm、最小領域:Φ3mm、基盤の臨界厚さ:0.2mm 測定方式磁気誘導 分解能0.1um 測定範囲(μm)0-400、0-40(銅上のクロム板) 測定誤差±(3%H+1)um(1点校正)・±[(1~3)H%+0.7]um(2点校正)
1本
99,980 税込109,978
10日以内出荷

仕様最小曲率:平にする、最小領域:Φ7mm、基盤の臨界厚さ:無制限 測定方式渦電流 分解能1um 測定範囲(μm)0-200 測定誤差±(3%H+1)um(1点校正)
1本
44,980 税込49,478
10日以内出荷

仕様最小曲率:10mm、最小領域:Φ40mm、基盤の臨界厚さ:2mm 測定方式磁気誘導 分解能10um 測定範囲(μm)0-10000 測定誤差±(3%H+10)um(1点校正)・±[(1~3)H%+10]um(2点校正)
1本
99,980 税込109,978
10日以内出荷

仕様最小曲率:平にする、最小領域:Φ7mm、基盤の臨界厚さ:0.5mm 測定方式磁気誘導 分解能0.1um 測定範囲(μm)0-1250 測定誤差±(3%H+1)um(1点校正)・±[(1~3)H%+1]um(2点校正)
1本
169,800 税込186,780
10日以内出荷

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