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シリコンウエハー 4インチ P型 (100)グローバル・トップ・ケミカル￥6,998税込￥7,698
1枚
当日出荷
装置テスト用(条件出し評価、搬送評価など)
仕様(パーティクル)不問、(製造)CZ型P型(導電型)サイズ4インチ直径(Φmm)100±0.5グレードダミー(モニター)厚さ(μm)525±25仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ抵抗値≧1Ωcm方位100(面)
シリコンウエハー 8インチ P型 (100)グローバル・トップ・ケミカル￥8,998税込￥9,898
1枚
当日出荷
装置テスト用(条件出し評価、搬送評価など)
仕様(パーティクル)不問、(製造)CZ型P型(導電型)サイズ8インチ直径(Φmm)200±0.5グレードダミー(モニター)厚さ(μm)725±25仕上片面ミラー/裏面エッチング、Vノッチ抵抗値≧1Ωcm方位100(面)
シリコンウエハー 6インチ P型 (100)グローバル・トップ・ケミカル￥7,998税込￥8,798
1枚
当日出荷
装置テスト用(条件出し評価、搬送評価など)
仕様(パーティクル)不問、(製造)CZ型P型(導電型)サイズ6インチ直径(Φmm)150±0.5グレードダミー(モニター)厚さ(μm)625±25仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ抵抗値≧1Ωcm方位100(面)
シリコンウエハー 2インチ P型 (100)グローバル・トップ・ケミカル￥7,798税込￥8,578
1枚
当日出荷
装置テスト用(条件出し評価、搬送評価など)
仕様(パーティクル)不問、(製造)CZ型P型(導電型)サイズ2インチ直径(Φmm)50±0.5グレードダミー(モニター)厚さ(μm)280±25仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ抵抗値≧1Ωcm方位100(面)
シリコンウエハー 4インチ P型 (100)グローバル・トップ・ケミカル￥89,980税込￥98,978
1箱(25枚)
当日出荷
装置テスト用(成膜・レジスト・フォトリソ・エッチングの条件出し評価、パーティクル測定、搬送評価など)
仕様(パーティクル)0.3μm≦50、(製造)CZ型P型(導電型)サイズ4インチ直径(Φmm)100±0.5グレードダミー(モニター)厚さ(μm)525±25仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ抵抗値≧1Ωcm方位100(面)
12インチ シリコンウェハー (両面ミラー・P型・CZ)グローバル・トップ・ケミカル￥40,980～税込￥45,078～
1箱(1枚)ほか
当日出荷から10日以内出荷
装置テスト用(成膜・レジスト・フォトリソ・エッチングの条件出し評価、パーティクル測定、搬送評価など)
用途装置テスト用 仕様0.2μm≦30 サイズ12インチ 直径(Φmm)300±0.2 タイプ製造：CZ、導電型：P型 グレードダミー(モニター)直径(Φmm)300±0.2タイプ製造：CZ、導電型：P型グレードダミー(モニター)仕上Vノッチ、両面ミラー方位100(面)
シリコンウエハー 6インチ P型 (100)グローバル・トップ・ケミカル￥109,800税込￥120,780
1箱(25枚)
予約販売
装置テスト用(成膜・レジスト・フォトリソ・エッチングの条件出し評価、パーティクル測定、搬送評価など)
仕様(パーティクル)0.3μm≦20、(製造)CZ型P型(導電型)サイズ6インチ直径(Φmm)150±0.5グレードダミー(モニター)厚さ(μm)625±25仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ抵抗値≧1Ωcm方位100(面)
4インチ シリコンウエハー ノンドープ(100) 抵抗値 1000Ωグローバル・トップ・ケミカル￥14,980税込￥16,478
1枚
当日出荷
装置テスト用(条件出し評価、搬送評価など)
用途装置テスト用、ダミー(モニター用)仕様パーティクル等：不問、導電型：ノンドープ、製造：FZサイズ4インチ直径(Φmm)100±0.5厚さ(μm)525±20仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ抵抗値≧1000Ωcm方位面：100
3インチ シリコンウエハー P型(100)グローバル・トップ・ケミカル￥6,498税込￥7,148
1枚
当日出荷
装置テスト用(条件出し評価、搬送評価など)
用途装置テスト用、ダミー(モニター用)仕様パーティクル、その他：不問、導電型：P型、製造：CZサイズ3インチ直径(Φmm)76±0.5厚さ(μm)380±25仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ抵抗値≧1Ωcm方位面：100
シリコンウエハー 8インチ P型 (100)グローバル・トップ・ケミカル￥139,400税込￥153,340
1箱(25枚)
8日以内出荷
装置テスト用(成膜・レジスト・フォトリソ・エッチングの条件出し評価、パーティクル測定、搬送評価など)
仕様(パーティクル)0.2μm≦30、(製造)CZ型P型(導電型)サイズ8インチ直径(Φmm)200±0.5グレードダミー(モニター)厚さ(μm)725±25仕上片面ミラー/裏面エッチング、Vノッチ抵抗値≧1Ωcm方位100(面)
シリコンウエハー 2インチ P型 (100)グローバル・トップ・ケミカル￥89,980税込￥98,978
1箱(25枚)
予約販売
装置テスト用(成膜・レジスト・フォトリソ・エッチングの条件出し評価、パーティクル測定、搬送評価など)
仕様(パーティクル)0.2μm≦30、(製造)CZ型P型(導電型)サイズ2インチ直径(Φmm)50±0.5グレードダミー(モニター)厚さ(μm)280±25仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ抵抗値≧1Ωcm方位100(面)
3インチ シリコンウエハー P型(100)グローバル・トップ・ケミカル￥68,980税込￥75,878
1箱(25枚)
8日以内出荷
装置テスト用(成膜・レジスト・フォトリソ・エッチングの条件出し評価、パーティクル測定、搬送評価など)
用途装置テスト用、ダミー(モニター用)仕様パーティクル：0.3μm≦20、導電型：P型、製造：CZサイズ3インチ直径(Φmm)76±0.5厚さ(μm)380±25仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ抵抗値≧1Ωcm方位面：100
4インチ シリコンウエハー ノンドープ(100) 抵抗値 1000Ωグローバル・トップ・ケミカル￥189,800税込￥208,780
1箱(25枚)
15日以内出荷
装置テスト用(成膜・レジスト・フォトリソ・エッチングの条件出し評価、パーティクル測定、搬送評価など)
用途装置テスト用、ダミー(モニター用)仕様パーティクル：0.3μm≦10、導電型：ノンドープ、製造：FZサイズ4インチ直径(Φmm)100±0.5厚さ(μm)525±20仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ抵抗値≧1000Ωcm方位面：100
6インチ シリコンウエハー(P型 熱酸化膜加工 1，000A)グローバル・トップ・ケミカル￥139,800税込￥153,780
1箱(25枚)
9日以内出荷
装置テスト用(成膜・レジスト・フォトリソ・エッチングの条件出し評価、パーティクル測定、搬送評価など)
用途装置テスト用、ダミー(モニター用)仕様導電型：P型、製造：CZサイズ6インチ直径(Φmm)150±0.5厚さ(μm)625±25仕上熱酸化膜(両面成膜)、1，000ű10%、オリフラ抵抗値≧1Ωcm方位面：100
8インチ シリコンウェハー(熱酸化膜加工 1，000A)グローバル・トップ・ケミカル￥179,800税込￥197,780
1箱(25枚)
10日以内出荷
装置テスト用(成膜・レジスト・フォトリソ・エッチングの条件出し評価、パーティクル測定、搬送評価など)
用途装置テスト用仕様熱酸化膜：1，000ű10%サイズ8インチ直径(Φmm)200±0.2タイプ導電型：P型厚さ(μm)725±25仕上Vノッチ、両面成膜抵抗≧1Ω・cm方位100(面)
