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シリコンウエハー P型 (100)
グローバル・トップ・ケミカル(1件のレビュー)¥6,998~税込¥7,698~1枚当日出荷装置テスト用(条件出し評価、搬送評価など)仕様(パーティクル)不問、(製造)CZ材質シリコン型P型(導電型)グレードダミー(モニター)抵抗値≧1Ωcm製造方法CZ法方位100(面)
シリコンウエハー P型 (100)
グローバル・トップ・ケミカル¥89,980~税込¥98,978~1箱(25枚)当日出荷から8日以内出荷装置テスト用(成膜・レジスト・フォトリソ・エッチングの条件出し評価、パーティクル測定、搬送評価など)型P型(導電型)グレードダミー(モニター)抵抗値≧1Ωcm製造方法CZ法方位100(面)
12インチ シリコンウェハー (両面ミラー・P型・CZ)
グローバル・トップ・ケミカル¥40,980~税込¥45,078~1箱(1枚)ほか当日出荷から10日以内出荷装置テスト用(成膜・レジスト・フォトリソ・エッチングの条件出し評価、パーティクル測定、搬送評価など)用途装置テスト用 仕様0.2μm≦30 サイズ12インチ 直径(Φmm)300±0.2 タイプ製造:CZ、導電型:P型 グレードダミー(モニター)直径(Φmm)300±0.2タイプ製造:CZ、導電型:P型サイズ(inch)12グレードダミー(モニター)抵抗(Ω)≧1・cm仕上Vノッチ、両面ミラー方位100(面)
シリコンウエハー 2インチ P型 (100)
グローバル・トップ・ケミカル¥7,798税込¥8,5781枚当日出荷装置テスト用(条件出し評価、搬送評価など)仕様(パーティクル)不問、(製造)CZ材質シリコン型P型(導電型)サイズ2インチ直径(Φmm)50±0.5グレードダミー(モニター)厚さ(μm)280±25仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ抵抗値≧1Ωcm製造方法CZ法方位100(面)
4インチ シリコンウエハー ノンドープ(100) 抵抗値 1000Ω
グローバル・トップ・ケミカル¥14,980税込¥16,4781枚当日出荷装置テスト用(条件出し評価、搬送評価など)用途装置テスト用、ダミー(モニター用)仕様パーティクル等:不問、導電型:ノンドープ、製造:FZ材質シリコンサイズ4インチ直径(Φmm)100±0.5厚さ(μm)525±20仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ抵抗値≧1000Ωcm製造方法FZ法方位面:100
3インチ シリコンウエハー P型(100)
グローバル・トップ・ケミカル¥6,498税込¥7,1481枚当日出荷装置テスト用(条件出し評価、搬送評価など)用途装置テスト用、ダミー(モニター用)仕様パーティクル、その他:不問、導電型:P型、製造:CZ材質シリコンサイズ3インチ直径(Φmm)76±0.5厚さ(μm)380±25仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ抵抗値≧1Ωcm製造方法CZ法方位面:100
6インチ シリコンウエハー(P型 熱酸化膜加工 1,000A)
グローバル・トップ・ケミカル¥139,800税込¥153,7801箱(25枚)9日以内出荷装置テスト用(成膜・レジスト・フォトリソ・エッチングの条件出し評価、パーティクル測定、搬送評価など)用途装置テスト用、ダミー(モニター用)仕様導電型:P型、製造:CZサイズ6インチ直径(Φmm)150±0.5厚さ(μm)625±25仕上熱酸化膜(両面成膜)、1,000ű10%、オリフラ抵抗値≧1Ωcm方位面:100
4インチシリコンウエハー P型 抵抗値0.02Ω
グローバル・トップ・ケミカル¥14,980~税込¥16,478~1箱10日以内出荷から49日以内出荷装置テスト用(条件出し評価、搬送評価など)用途装置テスト用、ダミー(モニター用)型P型(導電型)サイズ4インチ備考その他スペック不問厚さ(μm)525±25仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ抵抗値0.01~0.02Ωcm直径(mm)100±0.5製造方法CZ方位100面
2インチ シリコンウエハー ノンドープ(100) 抵抗値 1,000Ω
グローバル・トップ・ケミカル¥109,800税込¥120,7801箱30日以内出荷装置テスト用(条件出し評価、搬送評価など)用途装置テスト用、ダミー(モニター用)仕様パーティクル:0.3≦10型ノンドープ(導電型)サイズ2インチ備考その他スペック不問入数(枚)25(箱)厚さ(μm)280±25仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ抵抗値≧1,000Ωcm直径(mm)50±0.5製造方法FZ方位100面
2インチ シリコンウエハー ノンドープ(100) 抵抗値 1,000Ω
グローバル・トップ・ケミカル¥9,998税込¥10,9981箱17日以内出荷装置テスト用(条件出し評価、搬送評価など)用途装置テスト用、ダミー(モニター用)仕様パーティクル不問型ノンドープ(導電型)サイズ2インチ備考その他スペック不問入数(枚)1(箱)厚さ(μm)280±25仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ梱包内容枚葉ケース梱包抵抗値≧1,000Ωcm直径(mm)50±0.5製造方法FZ方位100面
3インチ シリコンウエハー P型(100)
グローバル・トップ・ケミカル¥68,980税込¥75,8781箱(25枚)8日以内出荷装置テスト用(成膜・レジスト・フォトリソ・エッチングの条件出し評価、パーティクル測定、搬送評価など)用途装置テスト用、ダミー(モニター用)仕様パーティクル:0.3μm≦20、導電型:P型、製造:CZサイズ3インチ直径(Φmm)76±0.5厚さ(μm)380±25仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ抵抗値≧1Ωcm方位面:100
4インチ シリコンウエハー ノンドープ(100) 抵抗値 1000Ω
グローバル・トップ・ケミカル¥189,800税込¥208,7801箱(25枚)15日以内出荷装置テスト用(成膜・レジスト・フォトリソ・エッチングの条件出し評価、パーティクル測定、搬送評価など)用途装置テスト用、ダミー(モニター用)仕様パーティクル:0.3μm≦10、導電型:ノンドープ、製造:FZ材質シリコンサイズ4インチ直径(Φmm)100±0.5厚さ(μm)525±20仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ抵抗値≧1000Ωcm製造方法FZ法方位面:100
8インチ シリコンウェハー(熱酸化膜加工 1,000A)
グローバル・トップ・ケミカル¥179,800税込¥197,7801箱(25枚)10日以内出荷装置テスト用(成膜・レジスト・フォトリソ・エッチングの条件出し評価、パーティクル測定、搬送評価など)用途装置テスト用仕様熱酸化膜:1,000ű10%サイズ8インチ直径(Φmm)200±0.2タイプ導電型:P型厚さ(μm)725±25仕上Vノッチ、両面成膜抵抗≧1Ω・cm方位100(面)
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