厚さ測定 :「膜厚計 校正」の検索結果
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仕様最小曲率:10mm、最小領域:Φ40mm、基盤の臨界厚さ:2mm
測定方式磁気誘導
分解能10um
測定範囲(μm)0-10000
測定誤差±(3%H+10)um(1点校正)・±[(1~3)H%+10]um(2点校正)
1本
¥99,980
税込¥109,978
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