厚さ測定 ：「膜厚計 校正」の検索結果
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仕様最小曲率：10mm、最小領域：Φ40mm、基盤の臨界厚さ：2mm
測定方式磁気誘導
分解能10um
測定範囲(μm)0-10000
測定誤差±(3%H+10)um(1点校正)・±[(1～3)H%+10]um(2点校正)
1本
￥99,980
税込￥109,978
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