汎用的な成膜用基板として使用されています。
天然白雲母です。成膜用基板やAFM観察用などに使用されています。
材質(基板)天然マイカ
研磨内容劈開
研究・開発用として実績があり、高純度材料を用いたウェハーを少量からご提供。
抵抗値0.1~100Ω・cm
製造方法CZ法
位置【OF】110
方位【面】100
各種成膜用基板として使用されています。
寸法(mm)10×10×0.5
研磨内容片面鏡面
材質(基板)CaF2
研究・開発用として実績があり、高純度材料を用いたウェハーを少量からご提供。
ベアシリコンウェハから半導体素子ができるまでの過程を体感できるセット内容です。教育現場での半導体についての説明などにご利用ください。
用途教育用
セット内容ベアウェハ(12インチ)、膜付きウェハ(12インチ) 、パターン付きウェハ(20mm角)、半導体素子(ダイオード/トランジスタ)
種類セット品
1セット
¥15,980
税込¥17,578
5日以内出荷
ウェハーの出荷・保管用の容器です。ウェハーの表を下にして収納します。
ポケットの底は円錘状でウェハーエッジのみ接触します。スプリングでウェハーを固定します。
トレー同士またはトレーとカバーの積み重ねが可能で、トレーは互いに固定して積み重ねることもできます。
オールポリプロピレン製。
材質ナチュラルPP(ポリプロピレン)
耐食性、耐熱性にすぐれ、電子部品、各種セラミックス、新素材などの生産・研究開発用に幅広く使用されています。
厚さ(mm)2.5
化学組成Al2O3 99.6%
耐熱温度(℃)約1800
材質アルミナ99.6%
色白
装置テスト用(条件出し評価、搬送評価など)
仕様(パーティクル)不問、(製造)CZ
型P型(導電型)
サイズ8インチ
直径(Φmm)200±0.5
グレードダミー(モニター)
厚さ(μm)725±25
仕上片面ミラー/裏面エッチング、Vノッチ
抵抗値≧1Ωcm
方位100(面)
1枚
¥8,998
税込¥9,898
欠品中
研究・開発用として実績があり、高純度材料を用いたウェハーを少量からご提供。
製造方法CZ法
熱に強く(耐熱約900~1000℃)、透明度が高く、耐薬品性があり薬品に侵されにくいガラスです。
用途研究、実験用
厚さ(mm)1
材質石英ガラス
色透明
耐熱温度(℃)約1000
プラズマの影響を受けにくい半導体用不可逆性温度感知シール。ウエハに直接貼ってご利用頂けます。高温耐久性に優れているため、80℃から280℃までの広い範囲の管理が可能。表面をポリイミドフィルムでカバーし、裏面印刷で印刷インクの飛散を防止しています。屋内専用。RoHS対応。
用途半導体(ウエハ)や液晶パネル等の製造工程の温度管理及び、実験など様々な用途にご利用頂けます。
外形寸法(mm)15×15
有効期限(年)3(屋内使用)
変色淡黄→黒
RoHS指令(10物質対応)対応
示温部寸法(mm)Φ2
用途プラジェット絶縁用マイカ(雲母)シートです。
質量(g)12
種別絶縁マイカセット
RoHS指令(10物質対応)対応
使用済みシリコンウェハを再生加工して、再度プロセスに使用できるレベルにまで再生したシリコンウェハです。実験用、教育用など様々な用途に、少量からご提供します。
用途製造プロセス用、研究開発用、実験用、教育用
抵抗値1-100Ω・cm
仕様パーティクル:不問
超電導用基板などとして使用されています。
寸法(mm)10×10×0.5
材質(基板)MgO
方位(100)
装置テスト用(条件出し評価、搬送評価など)
仕様(パーティクル)不問、(製造)CZ
型P型(導電型)
サイズ6インチ
直径(Φmm)150±0.5
グレードダミー(モニター)
厚さ(μm)625±25
仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ
抵抗値≧1Ωcm
方位100(面)
1枚
¥7,998
税込¥8,798
当日出荷
FT-IR・Raman・UV/Visible用窓板(光学結晶)です。
厚さ(mm)3
直径(Φmm)32
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