近赤外撮影用 テレセントリックレンズ
近赤外波長コート1100nmを中心に高い透過率を実現したテレセントリックレンズ。赤外カメラとSWIR光源装置との組み合わせで、高倍率観察が可能に。
用途シリコンウェハやICチップなどの半導体デバイスの内部観察。ソーラーパネルやLCDなどの電気・電子部品の非破壊検査など。
適合素子サイズ1.1インチ
マウントC
W.D.(mm)65
内容量1台
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