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測定面の平面度の精密測定用です。

温度変化による形状の変化が極めて小さい材料を高精度に研磨した基板です。干渉計の原器やニュートン原器に使用することができます。

測定面の平面度の精密測定用です。

マイクロメータの測定面の平面度と平行度の検査に使用します。スピンドルの回転角にもとづずき厚みの異なる4枚1組みとなっています。

太陽光、白色光、または単色光で同心円の干渉しまが周辺近くまで見ることができます。

マイクロメータ検査に適した組み合わせのセットです。既存商品の校正依頼や受渡しがネットで素早く簡単にできる『再校正サービス』が利用可能な商品です。詳しくは再校正サービスカテゴリーご確認ください。

ガラス基板の両面を平行に研磨した基板です。特注のビームスプリッターや窓などで蒸着膜をコーティングする基板として使用できます。可視、赤外域で使用できるBK7タイプの平行平面基板です。平行度が高いものは、レーザの光路中に垂直に平行平面基板を挿入しても、透過ビームの角度は変わりません。面精度の高いものは、ニュートン原器の代わりとして使用することもできます。裏面反射の影響を防ぐことができる、ウェッジ基板(WSB/WSSQ/WSSQK)もご用意しています。※平行平面基板は表裏面の反射により10%の損失が生じます。※面精度保証データは製品には添付されません。

精密測定機器の総合メーカー・ミツトヨが製作したゲージブロックとして、皆様に安心して使用していただける精度を保証いたします。高度なラッピング技術により、平面度・表面粗さはゲージブロックに求められる最高レベルで生産され、優れた密着性が得られます。 材質がセラブロックの為防錆処理が不要です。鋼製に比べて10倍の摩耗耐性があり、経年劣化がほとんどありません。

精密測定機器の総合メーカー・ミツトヨが製作したゲージブロックとして、皆様に安心して使用していただける精度を保証いたします。高度なラッピング技術により、平面度・表面粗さはゲージブロックに求められる最高レベルで生産され、優れた密着性が得られます。既存商品の校正依頼や受渡しがネットで素早く簡単にできる『再校正サービス』が利用可能な商品です。詳しくは再校正サービスカテゴリーご確認ください。

両面研磨されていますので、方向を気にせず使用することができます。 専用ケース入りで収納に便利です。

定盤、工作機械などの平面度、真直度、水平の測定。測定範囲±5.00mm/m 最少読み取り値 0.001mm/m 繰り返し精度±0.005mm/m

マイクロメータの測定面の平面度と平行度の検査に使用します。 スピンドルの回転角にもとづき厚みの異なる4枚1組となっています。

既存商品の校正依頼や受渡しがネットで素早く簡単にできる『再校正サービス』が利用可能な商品です。詳しくは再校正サービスカテゴリーご確認ください。

精密測定機器の総合メーカー・ミツトヨが製作したゲージブロックとして、皆様に安心して使用していただける精度を保証いたします。高度なラッピング技術により、平面度・表面粗さはゲージブロックに求められる最高レベルで生産され、優れた密着性が得られます。既存商品の校正依頼や受渡しがネットで素早く簡単にできる『再校正サービス』が利用可能な商品です。詳しくは再校正サービスカテゴリーご確認ください。

測定器検査用ブロックゲージです。 測定器のご使用前のチェックに。

精密測定機器の総合メーカー・ミツトヨが製作したゲージブロックとして、皆様に安心して使用していただける精度を保証いたします。高度なラッピング技術により、平面度・表面粗さはゲージブロックに求められる最高レベルで生産され、優れた密着性が得られます。 材質がセラブロックの為防錆処理が不要です。鋼製に比べて10倍の摩耗耐性があり、経年劣化がほとんどありません。既存商品の校正依頼や受渡しがネットで素早く簡単にできる『再校正サービス』が利用可能な商品です。詳しくは再校正サービスカテゴリーご確認ください。

内側マイクロメータ、ホールテスト、ボアマチック及びシリンダーゲージなどの基点確認に使用します。 適正な寸法のセットリングをそろえれば校正にも使用できます。 寸法の実測値を0.001mm単位まで刻印します。(寸法測定位置は、高さT寸法の中央になります。)既存商品の校正依頼や受渡しがネットで素早く簡単にできる『再校正サービス』が利用可能な商品です。詳しくは再校正サービスカテゴリーご確認ください。

既存商品の校正依頼や受渡しがネットで素早く簡単にできる『再校正サービス』が利用可能な商品です。詳しくは再校正サービスカテゴリーご確認ください。

測定器検査用ブロックゲージです。 測定器のご使用前のチェックに。