グローバル・トップ・ケミカル

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グローバル・トップ・ケミカルシリコンウエハー 4インチ P型 (100)
装置テスト用(条件出し評価、搬送評価など)
仕様(パーティクル)不問、(製造)CZ P型(導電型) サイズ4インチ 直径(Φmm)100±0.5 グレードダミー(モニター) 厚さ(μm)525±25 仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ 抵抗値≧1Ωcm 方位100(面)
1枚
6,998 税込7,698
当日出荷

グローバル・トップ・ケミカルシリコンウエハー 8インチ P型 (100)
装置テスト用(条件出し評価、搬送評価など)
仕様(パーティクル)不問、(製造)CZ P型(導電型) サイズ8インチ 直径(Φmm)200±0.5 グレードダミー(モニター) 厚さ(μm)725±25 仕上片面ミラー/裏面エッチング、Vノッチ 抵抗値≧1Ωcm 方位100(面)
1枚
8,998 税込9,898
当日出荷

装置テスト用(成膜・レジスト・フォトリソ・エッチングの条件出し評価、パーティクル測定、搬送評価など)
用途装置テスト用 仕様0.2μm≦30 サイズ12インチ 直径(Φmm)300±0.2 タイプ製造:CZ、導電型:P型 グレードダミー(モニター) 直径(Φmm)300±0.2 タイプ製造:CZ、導電型:P型 グレードダミー(モニター) 仕上Vノッチ、両面ミラー 方位100(面)
1箱(1枚)ほか
40,980 税込45,078
10日以内出荷
バリエーション一覧へ (5種類の商品があります)

グローバル・トップ・ケミカルシリコンウエハー 6インチ P型 (100)
装置テスト用(条件出し評価、搬送評価など)
仕様(パーティクル)不問、(製造)CZ P型(導電型) サイズ6インチ 直径(Φmm)150±0.5 グレードダミー(モニター) 厚さ(μm)625±25 仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ 抵抗値≧1Ωcm 方位100(面)
1枚
7,998 税込8,798
当日出荷

グローバル・トップ・ケミカルシリコンウエハー 4インチ P型 (100)
装置テスト用(成膜・レジスト・フォトリソ・エッチングの条件出し評価、パーティクル測定、搬送評価など)
仕様(パーティクル)0.3μm≦50、(製造)CZ P型(導電型) サイズ4インチ 直径(Φmm)100±0.5 グレードダミー(モニター) 厚さ(μm)525±25 仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ 抵抗値≧1Ωcm 方位100(面)
1箱(25枚)
89,980 税込98,978
当日出荷

グローバル・トップ・ケミカル3インチ シリコンウエハー P型(100)
装置テスト用(条件出し評価、搬送評価など)
用途装置テスト用、ダミー(モニター用) 仕様パーティクル、その他:不問、導電型:P型、製造:CZ サイズ3インチ 直径(Φmm)76±0.5 厚さ(μm)380±25 仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ 抵抗値≧1Ωcm 方位面:100
1枚
6,498 税込7,148
9日以内出荷

グローバル・トップ・ケミカルシリコンウエハー 2インチ P型 (100)
装置テスト用(条件出し評価、搬送評価など)
仕様(パーティクル)不問、(製造)CZ P型(導電型) サイズ2インチ 直径(Φmm)50±0.5 グレードダミー(モニター) 厚さ(μm)280±25 仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ 抵抗値≧1Ωcm 方位100(面)
1枚
7,798 税込8,578
当日出荷

グローバル・トップ・ケミカルシリコンウエハー 2インチ P型 (100)
装置テスト用(成膜・レジスト・フォトリソ・エッチングの条件出し評価、パーティクル測定、搬送評価など)
仕様(パーティクル)0.2μm≦30、(製造)CZ P型(導電型) サイズ2インチ 直径(Φmm)50±0.5 グレードダミー(モニター) 厚さ(μm)280±25 仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ 抵抗値≧1Ωcm 方位100(面)
1箱(25枚)
89,980 税込98,978
8日以内出荷

グローバル・トップ・ケミカルシリコンウエハー 6インチ P型 (100)
装置テスト用(成膜・レジスト・フォトリソ・エッチングの条件出し評価、パーティクル測定、搬送評価など)
仕様(パーティクル)0.3μm≦20、(製造)CZ P型(導電型) サイズ6インチ 直径(Φmm)150±0.5 グレードダミー(モニター) 厚さ(μm)625±25 仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ 抵抗値≧1Ωcm 方位100(面)
1箱(25枚)
109,800 税込120,780
当日出荷

グローバル・トップ・ケミカル3インチ シリコンウエハー P型(100)
装置テスト用(成膜・レジスト・フォトリソ・エッチングの条件出し評価、パーティクル測定、搬送評価など)
用途装置テスト用、ダミー(モニター用) 仕様パーティクル:0.3μm≦20、導電型:P型、製造:CZ サイズ3インチ 直径(Φmm)76±0.5 厚さ(μm)380±25 仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ 抵抗値≧1Ωcm 方位面:100
1箱(25枚)
68,980 税込75,878
9日以内出荷

装置テスト用(成膜・レジスト・フォトリソ・エッチングの条件出し評価、パーティクル測定、搬送評価など)
用途装置テスト用、ダミー(モニター用) 仕様パーティクル:0.3μm≦10、導電型:ノンドープ、製造:FZ サイズ4インチ 直径(Φmm)100±0.5 厚さ(μm)525±20 仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ 抵抗値≧1000Ωcm 方位面:100
1箱(25枚)
189,800 税込208,780
15日以内出荷

装置テスト用(条件出し評価、搬送評価など)
用途装置テスト用、ダミー(モニター用) 仕様パーティクル等:不問、導電型:ノンドープ、製造:FZ サイズ4インチ 直径(Φmm)100±0.5 厚さ(μm)525±20 仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ 抵抗値≧1000Ωcm 方位面:100
1枚
14,980 税込16,478
15日以内出荷

装置テスト用(成膜・レジスト・フォトリソ・エッチングの条件出し評価、パーティクル測定、搬送評価など)
用途装置テスト用、ダミー(モニター用) 仕様導電型:P型、製造:CZ サイズ6インチ 直径(Φmm)150±0.5 厚さ(μm)625±25 仕上熱酸化膜(両面成膜)、1,000ű10%、オリフラ 抵抗値≧1Ωcm 方位面:100
1箱(25枚)
139,800 税込153,780
9日以内出荷

装置テスト用(成膜・レジスト・フォトリソ・エッチングの条件出し評価、パーティクル測定、搬送評価など)
用途装置テスト用 仕様熱酸化膜:1,000ű10% サイズ8インチ 直径(Φmm)200±0.2 タイプ導電型:P型 厚さ(μm)725±25 仕上Vノッチ、両面成膜 抵抗≧1Ω・cm 方位100(面)
1箱(25枚)
179,800 税込197,780
10日以内出荷

グローバル・トップ・ケミカルシリコンウエハー 8インチ P型 (100)
装置テスト用(成膜・レジスト・フォトリソ・エッチングの条件出し評価、パーティクル測定、搬送評価など)
仕様(パーティクル)0.2μm≦30、(製造)CZ P型(導電型) サイズ8インチ 直径(Φmm)200±0.5 グレードダミー(モニター) 厚さ(μm)725±25 仕上片面ミラー/裏面エッチング、Vノッチ 抵抗値≧1Ωcm 方位100(面)
1箱(25枚)
139,400 税込153,340
7日以内出荷