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割ピン式測定プローブは、精密ラップ処理されたテーパー付き拡張ピンにより押し広げられます。測定対象物により押し縮められたプローブにより押し上げられた拡張ピンの動きが、指示器に伝わります。硬質クロムメッキによる高耐摩耗性超硬チップ付きは、4mmからご用意できます。内蔵ばねによる一定の測定圧が得られるため、作業者の影響を受けません。非常に汎用性が良く、各ゲージは広い範囲をカバーできます。それぞれの限度内でどのようなサイズでも、どのような測定アプリケーションのタイプにもすばやく簡単に調整できます。穴の直径、真円度、および円筒度の測定に。一定の測定圧が得られ測定者の影響を受けない精密な測定が可能。

高分解能測定(分解能0.1μm)測定対象物により押し縮められたプローブにより押し上げられた拡張ピンの動きが、指示器に伝わります。硬質クロムメッキによる高耐摩耗性超硬チップ付きは、4mmからご用意できます。内蔵ばねによる一定の測定圧が得られるため、作業者の影響を受けません。非常に汎用性が良く、各ゲージは広い範囲をカバーできます。それぞれの限度内でどのようなサイズでも、どのような測定アプリケーションのタイプにもすばやく簡単に調整できます。穴の直径、真円度、および円筒度の測定に。一定の測定圧が得られ測定者の影響を受けない精密な測定が可能。