1セット
￥11,980
税込￥13,178
当日出荷
マシンビジョンで使用頻度の高い10種類のフィルターをセットにしました。
レンズ径もM27/P0.5を中心に、アダプターを介する事によりM25.5/P0.5とM30.5/P0.5に対応可能です。
セット内容T-BP324(主波長290-365nm透過率85%以上)、T-BP470(主波長425-495nm透過率85%以上)、T-BP505(主波長480-550nm透過率90%以上)、T-BP525(主波長500-555nm透過率90%以上)、T-BP550(主波長410-690nm透過率90%以上)、T-BP590(主波長560-600nm透過率90%以上)、T-BP635(主波長615-645nm透過率90%以上)、T-BP660(主波長640-680nm透過率90%以上)、T-BP850(主波長820-910nm透過率90%以上)、T-PL、ステップアップリング、ステップダウンリング
1個
￥69,980
税込￥76,978
当日出荷
薄型コンパクト設計のバックライトとして均一な照明。
用途半導体・リードフレームの外観・寸法検査。
電子部品・QFP・SOPの寸法・形状検査。
LEDが直接照射され、明るい光量が得られる。
LED照明の標準品として幅広い用途で使用できる。
用途基盤・チップ部品の検査。
液晶アライメント・検査。
IC捺印検査(OCR)。
照光形状リング形
帯状の光を照射出来る2分岐のライトガイドです。
用途ウェハなどのマクロ検査など
スリット寸法(mm)50
タイプ【SUSチューブ】フレキシブル
Tokina交換レンズの高解像度をラインセンサ用カメラへ最適化したレンズ。手動可変絞りを採用し、絞り値のコントロールを可能に。フォーカスリング及び絞りリング固定ネジにより、耐振性・衝撃性に優れたレンズ。
用途ラインセンサカメラ用
質量(g)514
長さ(mm)95
焦点距離(mm)100
撮影距離(m)0.3(物像間距離/最短)
マウントF
絞りF2.8～F32
寸法(Φmm)43(イメージサークル)
画角24.5°(水平)
ねじサイズフィルターネジ：M55 P0.75
最大口径比1:2.8
1台
￥97,980
税込￥107,778
31日以内出荷
従来機：KTL-350の2.5～3倍の照度を実現(メーカー比)。寿命はメタハラと比較し15倍の長寿命。消費電力はメタハラと比較し1/3。ランプ交換の必要が無く、ランニングコストを大幅に削減。外部リモートによるON/OFFの応答速度が約10ms。各種ファイバー結束径に最適なコンデンサーレンズを新規採用。
消費電力(VA)200
発光色白
寸法(幅W×高さH×奥行D)(mm)120×169×310
電源(V)AC100～240
電池寿命(時間)約30000
コントロール機能【外部】点灯ON/OFF，8bit調光，RS232C制御
質量(kg)4
調光方式電圧調光
光源LED
関連資料(0.4MB)
1台
￥399,800
税込￥439,780
16日以内出荷
近赤外波長コート1100nmを中心に高い透過率を実現したテレセントリックレンズ。赤外カメラとSWIR光源装置との組み合わせで、高倍率観察が可能に。
用途シリコンウェハやICチップなどの半導体デバイスの内部観察。ソーラーパネルやLCDなどの電気・電子部品の非破壊検査など。
適合素子サイズ1.1インチ
マウントC
W.D.(mm)65
関連資料(0.2MB)
定評ある光学性能を更に向上。シリーズ全タイプで高解像度・高精細・高コントラストを実現。メガピクセルカメラ対応(最大5MP 一部機種除く)
用途精密画像処理・各種検査用など
質量(g)270
分解能(μm)1.86(550nm)
適合素子サイズ～2/3インチ
鏡筒長(mm)130.27
絞り8.2
マウントC
先端径(Φmm)40
被写界深度(mm)0.013
光学倍率3
W.D.(mm)65
仕様N/A：0.18
1台
￥189,800
税込￥208,780
31日以内出荷
発光面の直下に配列されたLEDで高輝度照射が得られます。
用途半導体・リードフレームの外観・寸法検査。
電子部品・QFP・SOPの寸法・形状検査。
側面からの拡散光による無影均一照射。
拡散光によりハレーション対策に最適。
用途プラスチックキャップの側面検査。
エンボステープ内のQFP・SOP等のリード検査。
側面からの拡散光による無影均一照射。
拡散光によりハレーション対策に最適。
用途プラスチックキャップの側面検査。
エンボステープ内のQFP・SOP等のリード検査。
無影で均一な光を照射。
拡散光によりハレーション対策に最適。
用途IC捺印検査。
ウェハの外観検査。
基板上の部品検査。
360°水平方向からの照射で光沢のあるワークでも写り込みがなく、傷などの検査に最適.
用途凸凹(エンボス等)・ウェハ・ガラス基板の傷、汚れなどの検査。
レーザー刻印読み取り。
エッヂ抽出の検査等。
低い角度からの照射で金属面の刻印・エッヂ抽出などの検査に最適.
用途凸凹(エンボス等)・ウェハ・ガラス基板の傷、汚れなどの検査。
レーザー刻印読み取り。
エッヂ抽出の検査等。
1個
￥229,800
税込￥252,780
16日以内出荷
低倍・広視野ながら光学ディストーション0.1%以下。
軽量・コンパクト設計で高精度な画像計測及び検査などに最適。
マウントCマウント
適合素子サイズ～1/2
テレセントリック高倍率レンズ。
高い分解能、高解像力。
広い作業領域を確保するW.D.64mm。同軸落射照明はコンパクトなL型。
質量(g)512
タイプ同軸
分解能(μm)1.4(550nm)
先端径(Φmm)43
距離(物像間O-I)266mm
光学ディストーション0.001
被写界深度(mm)0.0137(550nm)
NA(開口数)0.24
適合素子サイズ～2/3
1個
￥259,800
税込￥285,780
11日以内出荷
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