TIMEの膜厚計

膜厚計とは、塗装されたコーティング剤の厚さを測るための測定器です。本体を壊すことなく測定でき、ひび割れの原因にもなる塗りムラの有無をチェック。先端のセンサーを対象物に押し付けることで計測します。種類は、鉄など磁性金属の下地に使用できる電磁式と、非磁性金属の下地に使用できる渦電流式の2タイプ。使える条件が異なるため、購入前に測定する対象物の素材を調べておきましょう。磁性金属・非磁性金属両用タイプであれば、双方の下地での使用が可能。

商品豆知識

膜厚計（電磁式膜厚計）の原理と測定方法の違い

TIMETIME2132用超音波厚さ計プローブ

TIME社超音波厚さ計TIME2134用のオプションプローブ(高浸透性)です。

仕様●測定範囲：5.0～40.0mm(鋳鉄)●接触面外形：22mm●周波数：2MHz●試験物表面温度範囲：-10～60℃ アズワン品番65-8290-35

1個

￥96,980 税込￥106,678

11日以内出荷

TIMETIME260x用磁気・渦電流膜厚計プローブ

TIME社磁気・渦電流膜厚計TIME2600/2601用の磁気・渦電流膜厚計プローブです

仕様●測定方式：磁気誘導●測定範囲：0～1250um●分解能：0.1um●測定誤差：±(3%H+1)um(1点校正)、±[(1～3)H%+1]um(2点校正)●最小曲率：1.5mm●最小領域：Φ7mm●基盤の臨界厚さ：0.5mm アズワン品番65-8290-49

1個

￥31,980 税込￥35,178

11日以内出荷

TIMETIME260x用磁気・渦電流膜厚計プローブ

。TIME社磁気・渦電流膜厚計TIME2600/2601用の磁気・渦電流膜厚計プローブです

仕様●測定方式：磁気誘導●測定範囲：0～1250um●分解能：0.1um●測定誤差：±(3%H+1)um(1点校正)、±[(1～3)H%+1]um(2点校正)●最小曲率：平にする●最小領域：Φ7mm●基盤の臨界厚さ：0.5mm アズワン品番65-8290-48

1個

￥159,800 税込￥175,780

11日以内出荷

TIME磁気・渦電流膜厚計プローブN1

仕様最小曲率：3mm、最小領域：Φ5mm、基盤の臨界厚さ：0.3mm 測定方式渦電流分解能0.1um 測定範囲(μm)0-1250 測定誤差±(3%H+1.5)um(1点校正)・±[(1～3)H%+1.5]um(2点校正)

1台

￥31,980 税込￥35,178

10日以内出荷

TIME磁気・渦電流膜厚計プローブF400

仕様最小曲率：凸面1mm、最小領域：Φ3mm、基盤の臨界厚さ：0.2mm 測定方式磁気誘導分解能0.1um 測定範囲(μm)0-400、0-40(銅上のクロム板) 測定誤差±(3%H+1)um(1点校正)・±[(1～3)H%+0.7]um(2点校正)

1本

￥99,980 税込￥109,978

10日以内出荷

TIME磁気・渦電流膜厚計プローブF10

仕様最小曲率：10mm、最小領域：Φ40mm、基盤の臨界厚さ：2mm 測定方式磁気誘導分解能10um 測定範囲(μm)0-10000 測定誤差±(3%H+10)um(1点校正)・±[(1～3)H%+10]um(2点校正)

1本

￥99,980 税込￥109,978

10日以内出荷

TIME磁気・渦電流膜厚計プローブF1/90

仕様最小曲率：平にする、最小領域：Φ7mm、基盤の臨界厚さ：0.5mm 測定方式磁気誘導分解能0.1um 測定範囲(μm)0-1250 測定誤差±(3%H+1)um(1点校正)・±[(1～3)H%+1]um(2点校正)

1本

￥169,800 税込￥186,780

10日以内出荷

TIME磁気・渦電流膜厚計プローブF1

仕様最小曲率：1.5mm、最小領域：Φ7mm、基盤の臨界厚さ：0.5mm 測定方式磁気誘導分解能0.1um 測定範囲(μm)0-1250 測定誤差±(3%H+1)um(1点校正)・±[(1～3)H%+1]um(2点校正)

1本

￥31,980 税込￥35,178

10日以内出荷

TIME磁気・渦電流膜厚計プローブCN02

仕様最小曲率：平にする、最小領域：Φ7mm、基盤の臨界厚さ：無制限測定方式渦電流分解能1um 測定範囲(μm)0-200 測定誤差±(3%H+1)um(1点校正)

1本

￥44,980 税込￥49,478

10日以内出荷

TIME磁気・渦電流膜厚計TIME

小型軽量 Fタイププローブを搭載、金属ベースの非磁性コーティングに対応連続測定・単一測定のどちらにも対応直接測定と分類ストレージ測定平均値(MEAN)、最大値(MAX)、最小値(MIN)、測定データ(NO)および標準偏差(S.DEV) 測定システムエラー校正

仕様最小試験面積直径：Φ7mm、基盤の臨界厚さ：0.5mm 寸法(mm)203×92×52 測定範囲0-1500um 質量(g)400 電源リチウム充電池測定方式磁気誘導 F1.5 最小曲げ半径(mm)凸度1.5 分解能0.1um 測定誤差±(1%H+1)um 動作湿度(%)0-75強い磁場環境ではない動作温度範囲(℃)0-40

1台

￥229,800 税込￥252,780

10日以内出荷

TIME磁気・渦電流膜厚計TIME

磁気誘導(鉄)と渦電流(非鉄)の2 つの動作測定方式用途に応じた6 種類のプローブダイレクトとバッチの2 つの動作モード、連続とシングルの2 つの測定モード平均、最大、最小、テスト番号、標準偏差を記録 640 データのメモリ 2 つの校正方法必要に応じて統計値を印刷するプリンターを内蔵電池残量低下表示とエラーアラームバックライト液晶

寸法(mm)230×86×47 電源充電池内蔵準拠規格DIN・ISO・ASTM・BS インターフェースRS232 動作湿度(%)20-90強い磁場環境ではない動作温度範囲(℃)0-40

1台

￥259,800 税込￥285,780

10日以内出荷

TIME磁気・渦電流膜厚計TIME

6種類のプローブに対応コンパクトな設計ながら高精度/高分解能各種コーティング材の膜厚を測定 F400， F1， F1/90， F10， N1， CN02の6種類のプローブ連続モード、シングルモードを搭載直接測定、バッチ測定平均値(MEAN)、最大値(MAX)、最小値(MIN)、測定データ数(NO)および標準偏差(S.DEV) 2種類の校正方法バックライト付き

仕様測定範囲(um)： 0-400(F400)・0-1250(F1・F1/90度)・0-10000(F10)・0-1250(N1)・0-40(N1・銅上のクローム)・10-200(CNO2)、低域分解能(um)：0.1(F400・F1・F1/90度・N1)・10(F10)・1(CNO2)、1点校正測定精度：± (3%H+1)(F400・F1・F1/90度)・± (3%H+10)(F10)・± (3%H+1.5)(N1)・± (3%H+1)(CNO2)、2点校正測定精度：±[ (1～3) %H+0.7](F400)・±[(1～3)%H+1](F1・F1/90度)・± [(1-3)%H+10](F10)・±[(1-3) %H+1.5](N1)、最小曲率mm：凸面1(F400)・1.5(F1)・平面(F1/90度・CN02)・10(F10)・3(N1)、最小領域の直径mm：Φ3(F400)・Φ7(F1・F1/90度)・Φ40(F10)・Φ5(N1)・Φ7(CN02)、基盤の臨界厚さmm：0.2(F400)・0.5(F1・F1/90度)・2(F10)・0.3(N1)・無制限(CN02) 電源NIMH充電池測定方式磁気誘導(F400・F1・F1/90度・F10)・渦電流(N1・CNO2) 準拠規格DIN・ISO・ASTM・BS 校正ゼロ調整および基準箔校正インターフェイスRS232

1台

￥149,800 税込￥164,780

4日以内出荷

TIME磁気・渦電流膜厚計TIME

Fプローブを本体に内蔵した廉価モデル一点測定モードゼロ点校正さまざまなアプリケーション向けの3種類の調整可能な解像度 mmとインチの間のな変換

仕様最小試験面積直径：7mm、基盤の臨界厚さ：0.5mm 寸法(mm)110×50×23 測定範囲0-1250um 質量(g)100 電源単4型乾電池2本(別売) 測定方式磁気誘導(F) 最小曲げ半径(mm)凸度1.5 測定誤差1um (±(3%H + 1)um)・5um (±(3%H + 1.5)um)・10um (±(3%H + 10)um) Hは試験片の厚さ動作温度範囲(℃)0-40

1台

￥69,980 税込￥76,978

10日以内出荷

TIME磁気・渦電流膜厚計TIME

TIME2510に有線プローブを追加したタイプ Fタイプ磁気誘導(鉄)及びNタイプ渦電流(非鉄)の測定方式ゼロ点校正および二点校正連続測定と単一測定直接測定とバッチ測定平均値(MEAN)、最大値(MAX)、最小値 (MIN)、測定データ数(NO)および標準偏差(S.DEV) 測定基板の自動認識

仕様最小試験面積直径：7mm(F)・5mm(N)、基盤の臨界厚さ：0.5mm(F)・0.3mm(N) 寸法(mm)110×50×23 測定範囲0-1250um(F)・0-1250um(N)・0-40um(N・銅上のクローム板) 質量(g)100 電源単4型乾電池2本(別売) 測定方式磁気誘導(F)・渦電流(N) 最小曲げ半径(mm)凸度1.5(F)・凸度3(N) 分解能0.1um 測定誤差±(3%H+1) um(F・ゼロ点校正)・±(3%H+1.5) um(Nゼロ点校正)・±{(1-3)%H+1}um(F・2点校正)・±{(1-3)%H+1.5}um(N・2点校正) Hは試験物の厚さ動作湿度(%)20-90強い磁場環境ではない動作温度範囲(℃)0-40

1台

￥119,800 税込￥131,780

10日以内出荷

TIME磁気・渦電流膜厚計TIME

Fタイプ磁気誘導(鉄)及びNタイプ渦電流(非鉄)の測定方式ゼロ点校正および二点校正連続測定と単一測定直接測定とバッチ測定平均値(MEAN)、最大値(MAX)、最小値 (MIN)、測定データ数(NO)および標準偏差(S.DEV) 測定基板の自動認識

1台

￥119,800 税込￥131,780

10日以内出荷

TIME磁気・渦電流膜厚計TIME

渦電流プローブ統合設計直接測定とバッチ測定モード 500件の測定データを保存平均値(MEAN)、最大値(MAX)、最小値(MIN)、測定データ数(NO)および標準偏差(S.DEV) 測定値と統計値を印刷するプリントアウト(別売TA230プリンタを利用)

仕様最小試験面積直径：Φ7mm、基材の臨界厚さ：0.5mm 寸法(mm)145×60×28 測定範囲0-1250um 質量(g)132 電源単4型乾電池2本(別売) 測定方式渦電流最小曲げ半径(mm)凸1.5・凹9 分解能0.1um 測定誤差±(3%H+1)um(ゼロ点校正)・±[(1%-3%)H+1]um(2点校正) 使用環境温度(℃)0-40

1台

￥73,980 税込￥81,378

10日以内出荷

TIME磁気・渦電流膜厚計TIME

F型プローブ統合設計直接測定とバッチ測定モード 500件の測定データを保存平均値(MEAN)、最大値(MAX)、最小値(MIN)、測定データ数(NO)および標準偏差(S.DEV) 測定値と統計値を印刷するプリントアウト(別売TA230プリンタを利用) 単位変換機能

仕様最小試験面積直径：Φ7mm、基材の臨界厚さ：0.5mm 寸法(mm)145×60×28 測定範囲0-1250um 質量(g)132 電源単4型乾電池2本(別売) 測定方式磁気誘導 F 最小曲げ半径(mm)凸1.5・凹9 分解能0.1um 測定誤差±(3%H+1)um(ゼロ点校正)・±[(1%-3%)H+1]um(2点校正) 使用環境温度(℃)0-40

1台

￥73,980 税込￥81,378

10日以内出荷