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わかりやすいガイド表示画面。 コンパクトなボディで長時間作業の疲労低減。
測定範囲(mm)(鉄素地)0~2.5、(非鉄金属素地)0~2.0 質量(g)約125 電源(V)DC3(単4乾電池×2本) 使用温度(℃)0~40(結露しないこと) 測定方式電磁誘導式・渦電流式両用(鉄・非鉄素地自動判別) プローブ1点定圧接触式、クロスVカット付き、測定部Φ28mm(プローブ部約Φ10mm) 表示方式グラフィックLCD(データ・メッセージ)、バックライト機能付き 寸法(幅W×高さH×奥行D)(mm)63×84×30 表示分解能(1μm)0~999μm<鉄・非鉄共通>、(0.01mm)1.00~2.50mm<鉄素地>、(0.01mm)1.00~2.00mm<非鉄素地> 校正(検量線)2点校正式/(ゼロ点)素地を使用する厚生、(標準調整点)素地を標準厚版を使用する校正
1台ほか
114,800 税込126,280
当日出荷から13日以内出荷
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鉄・非鉄金属の測定素材を自動で認識、測定 ゼロ・標準調整ですぐに測定可能 スリムなボディによる抜群のグリップ感。 LCD画面上に操作手順をガイド表示。 4つのキーによる簡単安心操作。 USB接続でパソコンへのデータ転送が可能。 チルトスタンド機能。 メモリ、統計機能などが付いた高性能なSWT-NEO2型もございます。
用途塗装、ライニング、メッキやアルマイトなどの絶縁性被膜の測定に 仕様検量線メモリ:鉄・非鉄用で各1本 付属品標準厚板、テスト用ゼロ板、乾電池、収納ケース、ハンドストラップコード、保証書兼ユーザー登録用紙、取扱説明書 質量(g)約200(電池含む) 測定範囲(mm)0~3.00(鉄素地)、0~2.5(非鉄素地) 寸法H(mm)30 電源単3アルカリ乾電池(1.5V)×2(連続使用最大約25時間/使用条件により異なる)、ACアダプタ(オプション)、オートパワーオフ機能付 使用温度(℃)0~40(結露しないこと) 寸法D(mm)156 プローブ1点定圧接触式、Vカット付、Φ15×50.9mm 測定精度均一面に対して0~100μm/±1μm(鉄・非鉄共通)または指示値の±2%、101μm~3.00mm/±2%以内(鉄素地)、101μm~2.50mm/±2%以内(非鉄素地) 表示方式LCDデジタル、表示ホールド 寸法W(mm)72 表示分解能1μm/0~999μm、切替で0.1μm/0~400μm、0.5μm/400~500μm、0.01mm/鉄素地(1.00~2.50mm)非鉄素地(1.00~2.50mm)
1セット
299,800 税込329,780
5日以内出荷から14日以内出荷
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ケツト科学研究所膜厚計 電磁式プローブ付
2.7 インチフルカラーLCD を採用。グラフ表示など3種類の統計情報を画面表示。Bluetooth 内蔵(Expert モデル)、USB-C 付属。「スキャン測定」「スキャン平均測定」を追加
電源(V)1.5(単3アルカリ乾電池)×4 消費電力(W)最大1 測定方式電磁誘導式 測定精度±1μm(~50μm)、±2%(50μm~)※メーカー指定条件による 表示方式デジタル(2.7インチフルカラー LCD) 表示分解能100μm未満0.1μm、100μm以上1μm(μm表示時)、10mm未満0.01mm、10mm以上0.1mm(mm表示時) 測定対象磁性金属上の非磁性被膜 測定範囲(μm)0~2500 電池寿命(時間)70 付加機能素地補正、調整、アプリケーション選択、上下限設定、単位切替、測定方法切替、言語切替、統計、計算(ブロック/グループ)、測定データ保存、自動パワーオフ、バックライト、日時設定、画面表示内容切替など メモリー数アプリケーション:50本(プローブ毎)
1セット
247,800 税込272,580
5日以内出荷から15日以内出荷
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ケツト科学研究所電磁式プローブ
膜厚計L-500用新開発プローブ 。電磁式プローブ(磁性金属素地用)
測定方式電磁誘導式 測定精度15μm未満±0.3μm/15μm以上1、000μm未満±2%/1、000μm以上±3% 対応機種膜厚計 L-500 測定対象磁性金属上の非磁性被膜 測定範囲(μm)0 ~ 2、500または99.0mils
1本
109,800 税込120,780
6日以内出荷

ケツト科学研究所L-500用電磁式プローブ
膜厚計L-500用新開発プローブ。電磁式プローブ(磁性金属素地用)。アプリケーションメモリを50本まで保存。パイプ内面測定用
測定方式電磁誘導式 測定精度15μm未満±0.3μm/15μm以上1000μm未満±2%/1000μm以上±3% 対応機種膜厚計 L-500 測定対象磁性金属上の非磁性被膜 測定範囲(μm)0 ~ 2500または99.0mils
1本
239,800 税込263,780
8日以内出荷

ケツト科学研究所L-500用電磁式プローブ
膜厚計L-500用新開発プローブ。電磁式プローブ(磁性金属素地用)。アプリケーションメモリを50本まで保存。L字型
測定方式電磁誘導式 測定精度15μm未満±0.3μm/15μm以上1000μm未満±2%/1000μm以上±3% 対応機種膜厚計 L-500 測定対象磁性金属上の非磁性被膜 測定範囲(μm)0 ~ 2500または99.0mils
1本
139,800 税込153,780
8日以内出荷