電磁式プローブ

電磁式プローブ ケツト科学研究所

膜厚計L-500用新開発プローブ
電磁式プローブ(磁性金属素地用)

測定方式電磁誘導式 測定精度15μm未満±0.3μm/15μm以上1、000μm未満±2%/1、000μm以上±3% 対応機種膜厚計 L-500 測定対象磁性金属上の非磁性被膜 測定範囲(μm)0 ~ 2、500または99.0mils 内容量1本
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