磁気・渦電流膜厚計プローブF1

磁気・渦電流膜厚計プローブF1 - TIME磁気・渦電流膜厚計プローブF1 - TIME
仕様最小曲率:1.5mm、最小領域:Φ7mm、基盤の臨界厚さ:0.5mm測定方式磁気誘導分解能0.1um測定範囲(μm)0-1250測定誤差±(3%H+1)um(1点校正)・±[(1~3)H%+1]um(2点校正)内容量1本
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76763007プローブF1
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