ウェハー/特殊ケース :「シリコンウエハー」の検索結果
装置テスト用(条件出し評価、搬送評価など)
仕様(パーティクル)不問、(製造)CZ
型P型(導電型)
サイズ6インチ
直径(Φmm)150±0.5
グレードダミー(モニター)
厚さ(μm)625±25
仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ
抵抗値≧1Ωcm
方位100(面)
1枚
¥7,998
税込¥8,798
当日出荷
装置テスト用(条件出し評価、搬送評価など)
仕様(パーティクル)不問、(製造)CZ
型P型(導電型)
サイズ4インチ
直径(Φmm)100±0.5
グレードダミー(モニター)
厚さ(μm)525±25
仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ
抵抗値≧1Ωcm
方位100(面)
1枚
¥6,998
税込¥7,698
当日出荷
装置テスト用(条件出し評価、搬送評価など)
仕様(パーティクル)不問、(製造)CZ
型P型(導電型)
サイズ8インチ
直径(Φmm)200±0.5
グレードダミー(モニター)
厚さ(μm)725±25
仕上片面ミラー/裏面エッチング、Vノッチ
抵抗値≧1Ωcm
方位100(面)
1枚
¥8,998
税込¥9,898
当日出荷
装置テスト用(条件出し評価、搬送評価など)
仕様(パーティクル)不問、(製造)CZ
型P型(導電型)
サイズ2インチ
直径(Φmm)50±0.5
グレードダミー(モニター)
厚さ(μm)280±25
仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ
抵抗値≧1Ωcm
方位100(面)
1枚
¥7,798
税込¥8,578
当日出荷
装置テスト用(条件出し評価、搬送評価など)
用途装置テスト用、ダミー(モニター用)
仕様パーティクル、その他:不問、導電型:P型、製造:CZ
サイズ3インチ
直径(Φmm)76±0.5
厚さ(μm)380±25
仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ
抵抗値≧1Ωcm
方位面:100
1枚
¥6,498
税込¥7,148
9日以内出荷
研究・開発用として実績があり、高純度材料を用いたウェハーを少量からご提供。
抵抗値0.1~100Ω・cm
製造方法CZ法
位置【OF】110
方位【面】100
装置テスト用(成膜・レジスト・フォトリソ・エッチングの条件出し評価、パーティクル測定、搬送評価など)
仕様(パーティクル)0.2μm≦30、(製造)CZ
型P型(導電型)
サイズ8インチ
直径(Φmm)200±0.5
グレードダミー(モニター)
厚さ(μm)725±25
仕上片面ミラー/裏面エッチング、Vノッチ
抵抗値≧1Ωcm
方位100(面)
1箱(25枚)
¥139,400
税込¥153,340
7日以内出荷
装置テスト用(成膜・レジスト・フォトリソ・エッチングの条件出し評価、パーティクル測定、搬送評価など)
仕様(パーティクル)0.3μm≦50、(製造)CZ
型P型(導電型)
サイズ4インチ
直径(Φmm)100±0.5
グレードダミー(モニター)
厚さ(μm)525±25
仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ
抵抗値≧1Ωcm
方位100(面)
1箱(25枚)
¥89,980
税込¥98,978
当日出荷
海外製造のシリコンウエハーです。製造年月は不問となります。
用途研究開発・ダミー用
仕様TTV:0.8≦/μm、WARP:20≦/μm、面方位:100
その他メーカー保証無し、および記載なきスペックは不問
長さ(mm)オリフラ:57.5±2.5
直径(Φmm)200.0±0.2
タイプP
入数(枚)25
厚さ(μm)725±10
仕上両面ミラー
抵抗値(Ω)16~24cm
1ケース(25枚)
¥65,980
税込¥72,578
8日以内出荷
装置テスト用(成膜・レジスト・フォトリソ・エッチングの条件出し評価、パーティクル測定、搬送評価など)
仕様(パーティクル)0.2μm≦30、(製造)CZ
型P型(導電型)
サイズ2インチ
直径(Φmm)50±0.5
グレードダミー(モニター)
厚さ(μm)280±25
仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ
抵抗値≧1Ωcm
方位100(面)
1箱(25枚)
¥89,980
税込¥98,978
欠品中
装置テスト用(条件出し評価、搬送評価など)
用途装置テスト用、ダミー(モニター用)
仕様パーティクル等:不問、導電型:ノンドープ、製造:FZ
サイズ4インチ
直径(Φmm)100±0.5
厚さ(μm)525±20
仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ
抵抗値≧1000Ωcm
方位面:100
1枚
¥14,980
税込¥16,478
当日出荷
使用済みシリコンウェハを再生加工して、再度プロセスに使用できるレベルにまで再生したシリコンウェハです。実験用、教育用など様々な用途に、少量からご提供します。
用途製造プロセス用、研究開発用、実験用、教育用
抵抗値1-100Ω・cm
仕様パーティクル:不問
コインロール梱包の12インチシリコンウエハーです。間に紙を挟んでプラスチック円筒ケースに収納して出荷します。両面ミラー、ダストフリー品です。
用途研究開発・ダミー用など
仕様両面ミラー
その他【記載なき事項】不問、【パーティクル】不問(ダストフリー)、レーザーマーク不問
サイズ12インチ
直径(Φmm)300±0.2
タイプP/N不問
厚さ(μm)775±25
抵抗値不問
装置テスト用(成膜・レジスト・フォトリソ・エッチングの条件出し評価、パーティクル測定、搬送評価など)
仕様(パーティクル)0.3μm≦20、(製造)CZ
型P型(導電型)
サイズ6インチ
直径(Φmm)150±0.5
グレードダミー(モニター)
厚さ(μm)625±25
仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ
抵抗値≧1Ωcm
方位100(面)
1箱(25枚)
¥109,800
税込¥120,780
当日出荷
装置テスト用(成膜・レジスト・フォトリソ・エッチングの条件出し評価、パーティクル測定、搬送評価など)
用途装置テスト用、ダミー(モニター用)
仕様パーティクル:0.3μm≦20、導電型:P型、製造:CZ
サイズ3インチ
直径(Φmm)76±0.5
厚さ(μm)380±25
仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ
抵抗値≧1Ωcm
方位面:100
1箱(25枚)
¥68,980
税込¥75,878
9日以内出荷
装置テスト用(成膜・レジスト・フォトリソ・エッチングの条件出し評価、パーティクル測定、搬送評価など)
用途装置テスト用、ダミー(モニター用)
仕様導電型:P型、製造:CZ
サイズ6インチ
直径(Φmm)150±0.5
厚さ(μm)625±25
仕上熱酸化膜(両面成膜)、1,000ű10%、オリフラ
抵抗値≧1Ωcm
方位面:100
1箱(25枚)
¥139,800
税込¥153,780
9日以内出荷
装置テスト用(成膜・レジスト・フォトリソ・エッチングの条件出し評価、パーティクル測定、搬送評価など)
用途装置テスト用、ダミー(モニター用)
仕様パーティクル:0.3μm≦10、導電型:ノンドープ、製造:FZ
サイズ4インチ
直径(Φmm)100±0.5
厚さ(μm)525±20
仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ
抵抗値≧1000Ωcm
方位面:100
1箱(25枚)
¥189,800
税込¥208,780
15日以内出荷
ウエハーケース梱包の12インチシリコンウエハーです。P型、両面ミラー、ノッチ不問、面方位不問、ダストフリー品です。
用途研究開発・ダミー用など
仕様面方位:不問
その他記載なき事項不問
サイズ12インチ
タイプP、面状態:両面ミラー
直径(Φ)300±0.2
厚さ(μm)(標準)775±25
抵抗値不問
方位ノッチ:不問
1箱
¥189,800
税込¥208,780
10日以内出荷
ウエハーケース梱包の12インチシリコンウエハーです。P型、両面ミラー、ノッチ<110>、面方位(100)、ダストフリー品です。標準納期は1~2カ月となります。
用途研究開発・ダミー用など
仕様面方位:-100
その他記載なき事項不問
サイズ12インチ
タイプP、面状態:両面ミラー
直径(Φ)300±0.2
厚さ(μm)(標準)775±25
抵抗値不問
方位ノッチ:<110>
1箱
¥239,800
税込¥263,780
45日以内出荷
ウエハーケース梱包の12インチシリコンウエハーです。P型、両面ミラー、ノッチ(方位)不問、面方位(100)、ダストフリー品です。標準納期は1~2カ月となります。
用途研究開発・ダミー用など
仕様面方位:-100
その他記載なき事項不問
サイズ12インチ
タイプP、面状態:両面ミラー
直径(Φ)300±0.2
厚さ(μm)(標準)775±25
抵抗値不問
方位ノッチ:不問
1箱
¥229,800
税込¥252,780
45日以内出荷
ベアシリコンウェハから半導体素子ができるまでの過程を体感できるセット内容です。教育現場での半導体についての説明などにご利用ください。
用途教育用
セット内容ベアウェハ(12インチ)、膜付きウェハ(12インチ) 、パターン付きウェハ(20mm角)、半導体素子(ダイオード/トランジスタ)
種類セット品
1セット
¥15,980
税込¥17,578
5日以内出荷
ウェハーの出荷・保管用の容器です。ウェハーの表を下にして収納します。
ポケットの底は円錘状でウェハーエッジのみ接触します。スプリングでウェハーを固定します。
トレー同士またはトレーとカバーの積み重ねが可能で、トレーは互いに固定して積み重ねることもできます。
オールポリプロピレン製。
材質ナチュラルPP(ポリプロピレン)
研究・開発用として実績があり、高純度材料を用いたウェハーを少量からご提供
仕様(面方位)100、(OF位置)110、パーティクル不問、多様な形状加工と表面処理が可能です(例:ざぐり加工、穴あけ加工、酸化膜付きウェハー)
抵抗値0.1~100Ω・cm※低抵抗:≦0.02Ω・cm、高抵抗:≧500Ω・cm
製造方法CZ法
『架台/スタンド/ホルダー類』には他にこんなカテゴリがあります
研究関連用品・実験用必需品 の新着商品
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