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厚さ測定 :「厚さ測定」の検索結果

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デュアルタイプ膜厚計 プローブ付 ケツト科学研究所デュアルタイプ膜厚計 プローブ付ケツト科学研究所
387,800税込426,580
1セット
5日以内出荷から15日以内出荷
2.7 インチフルカラーLCD を採用グラフ表示など3種類の統計情報を画面表示Bluetooth 内蔵(Expert モデル)、USB-C 付属「スキャン測定」「スキャン平均測定」を追加
電源(V)1.5(単3アルカリ乾電池)×4消費電力(W)最大1測定方式デュアル(電磁誘導式、渦電流式)測定精度±1μm(~50μm)、±2%(50μm~)※メーカー指定条件による表示方式デジタル(2.7インチフルカラー LCD)表示分解能100μm未満0.1μm、100μm以上1μm(μm表示時)、10mm未満0.01mm、10mm以上0.1mm(mm表示時)測定対象電磁誘導式/磁性金属上の非磁性被膜、渦電流式/非磁性金属上の絶縁被膜測定範囲(μm)電磁誘導式:0~2500/渦電流式:0~1200電池寿命(時間)70付加機能素地補正、調整、アプリケーション選択、上下限設定、単位切替、測定方法切替、言語切替、統計、計算(ブロック/グループ)、測定データ保存、自動パワーオフ、バックライト、日時設定、画面表示内容切替などメモリー数アプリケーション:50本(プローブ毎)
膜厚計 電磁式プローブ付 ケツト科学研究所膜厚計 電磁式プローブ付ケツト科学研究所
247,800税込272,580
1セット
5日以内出荷から15日以内出荷
2.7 インチフルカラーLCD を採用グラフ表示など3種類の統計情報を画面表示Bluetooth 内蔵(Expert モデル)、USB-C 付属「スキャン測定」「スキャン平均測定」を追加
電源(V)1.5(単3アルカリ乾電池)×4消費電力(W)最大1測定方式電磁誘導式測定精度±1μm(~50μm)、±2%(50μm~)※メーカー指定条件による表示方式デジタル(2.7インチフルカラー LCD)表示分解能100μm未満0.1μm、100μm以上1μm(μm表示時)、10mm未満0.01mm、10mm以上0.1mm(mm表示時)測定対象磁性金属上の非磁性被膜測定範囲(μm)0~2500電池寿命(時間)70付加機能素地補正、調整、アプリケーション選択、上下限設定、単位切替、測定方法切替、言語切替、統計、計算(ブロック/グループ)、測定データ保存、自動パワーオフ、バックライト、日時設定、画面表示内容切替などメモリー数アプリケーション:50本(プローブ毎)
電磁式プローブ ケツト科学研究所電磁式プローブケツト科学研究所
109,800税込120,780
1本
3日以内出荷
膜厚計L-500用新開発プローブ 電磁式プローブ(磁性金属素地用)
測定方式電磁誘導式測定精度15μm未満±0.3μm/15μm以上1、000μm未満±2%/1、000μm以上±3%対応機種膜厚計 L-500測定対象磁性金属上の非磁性被膜測定範囲(μm)0 ~ 2、500または99.0mils
L-500用電磁式プローブ ケツト科学研究所L-500用電磁式プローブケツト科学研究所
139,800税込153,780
1本
8日以内出荷
膜厚計L-500用新開発プローブ電磁式プローブ(磁性金属素地用)アプリケーションメモリを50本まで保存L字型
測定方式電磁誘導式測定精度15μm未満±0.3μm/15μm以上1000μm未満±2%/1000μm以上±3%対応機種膜厚計 L-500測定対象磁性金属上の非磁性被膜測定範囲(μm)0 ~ 2500または99.0mils
L-500用電磁式プローブ ケツト科学研究所L-500用電磁式プローブケツト科学研究所
239,800税込263,780
1本
8日以内出荷
膜厚計L-500用新開発プローブ電磁式プローブ(磁性金属素地用)アプリケーションメモリを50本まで保存パイプ内面測定用
測定方式電磁誘導式測定精度15μm未満±0.3μm/15μm以上1000μm未満±2%/1000μm以上±3%対応機種膜厚計 L-500測定対象磁性金属上の非磁性被膜測定範囲(μm)0 ~ 2500または99.0mils
プリンタ内蔵型膜厚計 ケツト科学研究所プリンタ内蔵型膜厚計ケツト科学研究所
319,800税込351,780
1台
6日以内出荷
プリンタ内蔵の膜厚計最上位モデル ブロック/グループ統計計算機能
電源AC100-240Vまたは電池1.5V(単3アルカリ)×8(本体用×4、プリンタ部×4)適合規格電磁誘導式:JIS K5600-1-7、JIS H0401、JIS H8401、JIS H8501、 / ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840 / ASTM B 499、ASTM D 7091、ASTM E 376/渦電流式:JIS K5600-1-7、JIS H8680-2、JIS H8501 / ISO 2808、ISO 2360、ISO 2064、ISO 19840 /ASTM B 244、 ASTM D 7091、ASTM E 376測定方式電磁誘導式または渦電流式プローブ一点接触定圧式(EP-100、HP-100)表示デジタル(LCD、表示最小桁0.1μm)測定精度電磁式(EP-100)の場合:15μm未満:±0.3μm、15μm以上1、000μm:±2%、 1、000μm以上:±3%/渦電流式(HP-100)の場合:50μm未満:±1.0μm、50μm以上:±2%分解能(μm)100未満:0.1、100以上:1外部出力USBシリアル測定範囲(μm)電磁式(EP-100)の場合:0~2、500または99.0mils/渦電流式(HP-100)の場合:0~1、200または47.0mils統計機能測定回数・平均値・標準偏差・最大値・最小値・ブロック・グループ
プリンタ内蔵型膜厚計 プローブ付 ケツト科学研究所プリンタ内蔵型膜厚計 プローブ付ケツト科学研究所
479,800税込527,780
1セット
14日以内出荷
膜厚計L-500とプローブのセット品
電源AC100-240Vまたは電池1.5V(単3アルカリ)×8(本体用×4、プリンタ部×4)適合規格電磁誘導式:JIS K5600-1-7、JIS H0401、JIS H8401、JIS H8501、 / ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840 / ASTM B 499、ASTM D 7091、ASTM E 376/渦電流式:JIS K5600-1-7、JIS H8680-2、JIS H8501 / ISO 2808、ISO 2360、ISO 2064、ISO 19840 /ASTM B 244、 ASTM D 7091、ASTM E 376測定方式電磁誘導式または渦電流式プローブ一点接触定圧式(EP-100、HP-100)表示デジタル(LCD、表示最小桁0.1μm)測定精度電磁式(EP-100)の場合:15μm未満:±0.3μm、15μm以上1、000μm:±2%、 1、000μm以上:±3%/渦電流式(HP-100)の場合:50μm未満:±1.0μm、50μm以上:±2%分解能(μm)100未満:0.1、100以上:1外部出力USBシリアル測定範囲(μm)電磁式(EP-100)の場合:0~2、500または99.0mils/渦電流式(HP-100)の場合:0~1、200または47.0mils統計機能測定回数・平均値・標準偏差・最大値・最小値・ブロック・グループ校正証明書付き
プリンタ内蔵型膜厚計 プローブ付 ケツト科学研究所プリンタ内蔵型膜厚計 プローブ付ケツト科学研究所
429,800税込472,780
1セット
6日以内出荷
膜厚計L-500とプローブのセット品
電源AC100-240Vまたは電池1.5V(単3アルカリ)×8(本体用×4、プリンタ部×4)適合規格電磁誘導式:JIS K5600-1-7、JIS H0401、JIS H8401、JIS H8501、 / ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840 / ASTM B 499、ASTM D 7091、ASTM E 376/渦電流式:JIS K5600-1-7、JIS H8680-2、JIS H8501 / ISO 2808、ISO 2360、ISO 2064、ISO 19840 /ASTM B 244、 ASTM D 7091、ASTM E 376測定方式電磁誘導式または渦電流式プローブ一点接触定圧式(EP-100、HP-100)表示デジタル(LCD、表示最小桁0.1μm)測定精度電磁式(EP-100)の場合:15μm未満:±0.3μm、15μm以上1、000μm:±2%、 1、000μm以上:±3%/渦電流式(HP-100)の場合:50μm未満:±1.0μm、50μm以上:±2%分解能(μm)100未満:0.1、100以上:1外部出力USBシリアル測定範囲(μm)電磁式(EP-100)の場合:0~2、500または99.0mils/渦電流式(HP-100)の場合:0~1、200または47.0mils統計機能測定回数・平均値・標準偏差・最大値・最小値・ブロック・グループ
SWT-NEO専用プローブ サンコウ電子SWT-NEO専用プローブサンコウ電子
88,980税込97,878
1本ほか
翌々日出荷から22日以内出荷
RoHS指令(10物質対応)対応
電磁・渦電流式膜厚計 プローブ付(<SWT-NEO>+<SFN-325>) サンコウ電子電磁・渦電流式膜厚計 プローブ付(<SWT-NEO>+<SFN-325>)サンコウ電子
299,800税込329,780
1セット
5日以内出荷から14日以内出荷
鉄・非鉄金属の測定素材を自動で認識、測定 ゼロ・標準調整ですぐに測定可能 スリムなボディによる抜群のグリップ感。 LCD画面上に操作手順をガイド表示。 4つのキーによる簡単安心操作。 USB接続でパソコンへのデータ転送が可能。 チルトスタンド機能。 メモリ、統計機能などが付いた高性能なSWT-NEO2型もございます。
用途塗装、ライニング、メッキやアルマイトなどの絶縁性被膜の測定に仕様検量線メモリ:鉄・非鉄用で各1本付属品標準厚板、テスト用ゼロ板、乾電池、収納ケース、ハンドストラップコード、保証書兼ユーザー登録用紙、取扱説明書質量(g)約200(電池含む)測定範囲(mm)0~3.00(鉄素地)、0~2.5(非鉄素地)寸法H(mm)30電源単3アルカリ乾電池(1.5V)×2(連続使用最大約25時間/使用条件により異なる)、ACアダプタ(オプション)、オートパワーオフ機能付使用温度(℃)0~40(結露しないこと)寸法D(mm)156プローブ1点定圧接触式、Vカット付、Φ15×50.9mm測定精度均一面に対して0~100μm/±1μm(鉄・非鉄共通)または指示値の±2%、101μm~3.00mm/±2%以内(鉄素地)、101μm~2.50mm/±2%以内(非鉄素地)表示方式LCDデジタル、表示ホールド寸法W(mm)72表示分解能1μm/0~999μm、切替で0.1μm/0~400μm、0.5μm/400~500μm、0.01mm/鉄素地(1.00~2.50mm)非鉄素地(1.00~2.50mm)
電磁膜厚計 プローブ付(<SWT-NEO>+<SFE-2.5>) サンコウ電子電磁膜厚計 プローブ付(<SWT-NEO>+<SFE-2.5>)サンコウ電子
199,800税込219,780
1セット
当日出荷から14日以内出荷
測定範囲は0~2.5mmのワイドレンジ ゼロ・標準調整ですぐに測定可能 スリムなボディによる抜群のグリップ感。 LCD画面上に操作手順をガイド表示。 4つのキーによる簡単安心操作。 USB接続でパソコンへのデータ転送が可能。 チルトスタンド機能。 メモリ、統計機能などが付いた高性能なSWT-NEO2型もございます。
用途塗装、ライニング、メッキ、塗装一般の測定に仕様検量線メモリ:×1付属品標準厚板、テスト用ゼロ板、乾電池、収納ケース、ハンドストラップコード、保証書兼ユーザー登録用紙、取扱説明書質量(g)約200(電池含む)測定範囲(mm)0~2.50寸法H(mm)30電源単3アルカリ乾電池(1.5V)×2(連続使用最大約25時間/使用条件により異なる)、ACアダプタ(オプション)、オートパワーオフ機能付使用温度(℃)0~40(結露しないこと)寸法D(mm)156プローブ1点定圧接触式、Vカット付、Φ15×47mm測定精度均一面に対して0~100μm/±1μmまたは指示値の±2%、101μm~2.50mm/±2%以内表示方式LCDデジタル、表示ホールド寸法W(mm)72表示分解能1μm/0~999μm、切替で0.1μm/0~400μm、0.5μm/400~500μm、0.01mm/1.00~2.50mm
両用一体型膜厚計 サンコウ電子両用一体型膜厚計サンコウ電子(1件のレビュー)
114,800税込126,280
1台ほか
当日出荷から13日以内出荷
わかりやすいガイド表示画面。 コンパクトなボディで長時間作業の疲労低減。
測定範囲(mm)(鉄素地)0~2.5、(非鉄金属素地)0~2.0質量(g)約125電源(V)DC3(単4乾電池×2本)使用温度(℃)0~40(結露しないこと)測定方式電磁誘導式・渦電流式両用(鉄・非鉄素地自動判別)プローブ1点定圧接触式、クロスVカット付き、測定部Φ28mm(プローブ部約Φ10mm)表示方式グラフィックLCD(データ・メッセージ)、バックライト機能付き寸法(幅W×高さH×奥行D)(mm)63×84×30表示分解能(1μm)0~999μm<鉄・非鉄共通>、(0.01mm)1.00~2.50mm<鉄素地>、(0.01mm)1.00~2.00mm<非鉄素地>校正(検量線)2点校正式/(ゼロ点)素地を使用する厚生、(標準調整点)素地を標準厚版を使用する校正
厚さ測定
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 使用用途などの自然な言葉で検索できるようになりました(例:工場の床に白い線を引く)詳細はこちら