電磁膜厚計 プローブ付(<SWT-NEO>+<SFE-2.5>)

電磁膜厚計 プローブ付(<SWT-NEO>+<SFE-2.5>) サンコウ電子

測定範囲は0~2.5mmのワイドレンジ
ゼロ・標準調整ですぐに測定可能
スリムなボディによる抜群のグリップ感。
LCD画面上に操作手順をガイド表示。
4つのキーによる簡単安心操作。
USB接続でパソコンへのデータ転送が可能。
チルトスタンド機能。
メモリ、統計機能などが付いた高性能なSWT-NEO2型もございます。

用途塗装、ライニング、メッキ、塗装一般の測定に 仕様検量線メモリ:×1 付属品標準厚板、テスト用ゼロ板、乾電池、収納ケース、ハンドストラップコード、保証書兼ユーザー登録用紙、取扱説明書 質量(g)約200(電池含む) 測定範囲(mm)0~2.50 寸法H(mm)30 電源単3アルカリ乾電池(1.5V)×2(連続使用最大約25時間/使用条件により異なる)、ACアダプタ(オプション)、オートパワーオフ機能付 使用温度(℃)0~40(結露しないこと) 寸法D(mm)156 プローブ1点定圧接触式、Vカット付、Φ15×47mm 測定精度均一面に対して0~100μm/±1μmまたは指示値の±2%、101μm~2.50mm/±2%以内 表示方式LCDデジタル、表示ホールド 寸法W(mm)72 表示分解能1μm/0~999μm、切替で0.1μm/0~400μm、0.5μm/400~500μm、0.01mm/1.00~2.50mm 内容量1セット
注意

※品番に(英語版校正証明書付)を含む商品はISO品質マネジメントシステムに基づく外部校正業者基準の校正ポイントにて校正を実施し書類発行後出荷致します。
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注文コード 参考基準価格(税別) 販売価格(税別) 販売価格(税込) 出荷目安 数量
23697740 SWT-NEO-F
210,000
199,000
218,900 (税込)
3日以内出荷

返品不可
23697758 SWT-NEO-F(メーカー実施校正書・トレサビリティ体系図付)
232,000
229,000
251,900 (税込)
14日以内出荷

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代引不可
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23697776 SWT-NEO-F(校正企業実施校正書・トレサビリティ体系図付)
オープン
229,000
251,900 (税込)
7日以内出荷

メーカー直送
返品不可
代引不可
特別運賃
50828656 SWT-NEO-F(英語版校正証明書付)
オープン
239,000
262,900 (税込)
7日以内出荷

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地域 単位 配送費
全国 数量1につき 1,000 / 税込 1,100
北海道地方 数量1につき 2,000 / 税込 2,200
沖縄地方 数量1につき 2,000 / 税込 2,200
離島 数量1につき 3,000 / 税込 3,300

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