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シリコンウエハー 4インチ P型 (100) グローバル・トップ・ケミカルシリコンウエハー 4インチ P型 (100)グローバル・トップ・ケミカル
6,998税込7,698
1枚
当日出荷
装置テスト用(条件出し評価、搬送評価など)
仕様(パーティクル)不問、(製造)CZP型(導電型)サイズ4インチ直径(Φmm)100±0.5グレードダミー(モニター)厚さ(μm)525±25仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ抵抗値≧1Ωcm方位100(面)
シリコンウエハー 8インチ P型 (100) グローバル・トップ・ケミカルシリコンウエハー 8インチ P型 (100)グローバル・トップ・ケミカル
8,998税込9,898
1枚
当日出荷
装置テスト用(条件出し評価、搬送評価など)
仕様(パーティクル)不問、(製造)CZP型(導電型)サイズ8インチ直径(Φmm)200±0.5グレードダミー(モニター)厚さ(μm)725±25仕上片面ミラー/裏面エッチング、Vノッチ抵抗値≧1Ωcm方位100(面)
シリコンウエハー 6インチ P型 (100) グローバル・トップ・ケミカルシリコンウエハー 6インチ P型 (100)グローバル・トップ・ケミカル
7,998税込8,798
1枚
当日出荷
装置テスト用(条件出し評価、搬送評価など)
仕様(パーティクル)不問、(製造)CZP型(導電型)サイズ6インチ直径(Φmm)150±0.5グレードダミー(モニター)厚さ(μm)625±25仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ抵抗値≧1Ωcm方位100(面)
シリコンウエハー 2インチ P型 (100) グローバル・トップ・ケミカルシリコンウエハー 2インチ P型 (100)グローバル・トップ・ケミカル
7,798税込8,578
1枚
当日出荷
装置テスト用(条件出し評価、搬送評価など)
仕様(パーティクル)不問、(製造)CZP型(導電型)サイズ2インチ直径(Φmm)50±0.5グレードダミー(モニター)厚さ(μm)280±25仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ抵抗値≧1Ωcm方位100(面)
12インチ シリコンウェハー (両面ミラー・P型・CZ) グローバル・トップ・ケミカル12インチ シリコンウェハー (両面ミラー・P型・CZ)グローバル・トップ・ケミカル
40,980税込45,078
1箱(1枚)ほか
当日出荷から10日以内出荷
装置テスト用(成膜・レジスト・フォトリソ・エッチングの条件出し評価、パーティクル測定、搬送評価など)
用途装置テスト用 仕様0.2μm≦30 サイズ12インチ 直径(Φmm)300±0.2 タイプ製造:CZ、導電型:P型 グレードダミー(モニター)直径(Φmm)300±0.2タイプ製造:CZ、導電型:P型グレードダミー(モニター)仕上Vノッチ、両面ミラー方位100(面)
3インチ シリコンウエハー P型(100) グローバル・トップ・ケミカル3インチ シリコンウエハー P型(100)グローバル・トップ・ケミカル
6,498税込7,148
1枚
当日出荷
装置テスト用(条件出し評価、搬送評価など)
用途装置テスト用、ダミー(モニター用)仕様パーティクル、その他:不問、導電型:P型、製造:CZサイズ3インチ直径(Φmm)76±0.5厚さ(μm)380±25仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ抵抗値≧1Ωcm方位面:100
シリコンウエハー 8インチ P型 (100) グローバル・トップ・ケミカルシリコンウエハー 8インチ P型 (100)グローバル・トップ・ケミカル
139,400税込153,340
1箱(25枚)
8日以内出荷
装置テスト用(成膜・レジスト・フォトリソ・エッチングの条件出し評価、パーティクル測定、搬送評価など)
仕様(パーティクル)0.2μm≦30、(製造)CZP型(導電型)サイズ8インチ直径(Φmm)200±0.5グレードダミー(モニター)厚さ(μm)725±25仕上片面ミラー/裏面エッチング、Vノッチ抵抗値≧1Ωcm方位100(面)
シリコンウエハー 6インチ P型 (100) グローバル・トップ・ケミカルシリコンウエハー 6インチ P型 (100)グローバル・トップ・ケミカル
109,800税込120,780
1箱(25枚)
予約販売
装置テスト用(成膜・レジスト・フォトリソ・エッチングの条件出し評価、パーティクル測定、搬送評価など)
仕様(パーティクル)0.3μm≦20、(製造)CZP型(導電型)サイズ6インチ直径(Φmm)150±0.5グレードダミー(モニター)厚さ(μm)625±25仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ抵抗値≧1Ωcm方位100(面)
シリコンウエハー 4インチ P型 (100) グローバル・トップ・ケミカルシリコンウエハー 4インチ P型 (100)グローバル・トップ・ケミカル
89,980税込98,978
1箱(25枚)
当日出荷
装置テスト用(成膜・レジスト・フォトリソ・エッチングの条件出し評価、パーティクル測定、搬送評価など)
仕様(パーティクル)0.3μm≦50、(製造)CZP型(導電型)サイズ4インチ直径(Φmm)100±0.5グレードダミー(モニター)厚さ(μm)525±25仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ抵抗値≧1Ωcm方位100(面)
4インチ シリコンウエハー ノンドープ(100) 抵抗値  1000Ω グローバル・トップ・ケミカル4インチ シリコンウエハー ノンドープ(100) 抵抗値 1000Ωグローバル・トップ・ケミカル
14,980税込16,478
1枚
当日出荷
装置テスト用(条件出し評価、搬送評価など)
用途装置テスト用、ダミー(モニター用)仕様パーティクル等:不問、導電型:ノンドープ、製造:FZサイズ4インチ直径(Φmm)100±0.5厚さ(μm)525±20仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ抵抗値≧1000Ωcm方位面:100
シリコンウエハー 2インチ P型 (100) グローバル・トップ・ケミカルシリコンウエハー 2インチ P型 (100)グローバル・トップ・ケミカル
89,980税込98,978
1箱(25枚)
予約販売
装置テスト用(成膜・レジスト・フォトリソ・エッチングの条件出し評価、パーティクル測定、搬送評価など)
仕様(パーティクル)0.2μm≦30、(製造)CZP型(導電型)サイズ2インチ直径(Φmm)50±0.5グレードダミー(モニター)厚さ(μm)280±25仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ抵抗値≧1Ωcm方位100(面)
3インチ シリコンウエハー P型(100) グローバル・トップ・ケミカル3インチ シリコンウエハー P型(100)グローバル・トップ・ケミカル
68,980税込75,878
1箱(25枚)
8日以内出荷
装置テスト用(成膜・レジスト・フォトリソ・エッチングの条件出し評価、パーティクル測定、搬送評価など)
用途装置テスト用、ダミー(モニター用)仕様パーティクル:0.3μm≦20、導電型:P型、製造:CZサイズ3インチ直径(Φmm)76±0.5厚さ(μm)380±25仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ抵抗値≧1Ωcm方位面:100
4インチ シリコンウエハー ノンドープ(100) 抵抗値  1000Ω グローバル・トップ・ケミカル4インチ シリコンウエハー ノンドープ(100) 抵抗値 1000Ωグローバル・トップ・ケミカル
189,800税込208,780
1箱(25枚)
15日以内出荷
装置テスト用(成膜・レジスト・フォトリソ・エッチングの条件出し評価、パーティクル測定、搬送評価など)
用途装置テスト用、ダミー(モニター用)仕様パーティクル:0.3μm≦10、導電型:ノンドープ、製造:FZサイズ4インチ直径(Φmm)100±0.5厚さ(μm)525±20仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ抵抗値≧1000Ωcm方位面:100
6インチ シリコンウエハー(P型 熱酸化膜加工 1,000A) グローバル・トップ・ケミカル6インチ シリコンウエハー(P型 熱酸化膜加工 1,000A)グローバル・トップ・ケミカル
139,800税込153,780
1箱(25枚)
9日以内出荷
装置テスト用(成膜・レジスト・フォトリソ・エッチングの条件出し評価、パーティクル測定、搬送評価など)
用途装置テスト用、ダミー(モニター用)仕様導電型:P型、製造:CZサイズ6インチ直径(Φmm)150±0.5厚さ(μm)625±25仕上熱酸化膜(両面成膜)、1,000ű10%、オリフラ抵抗値≧1Ωcm方位面:100
8インチ シリコンウェハー(熱酸化膜加工 1,000A) グローバル・トップ・ケミカル8インチ シリコンウェハー(熱酸化膜加工 1,000A)グローバル・トップ・ケミカル
179,800税込197,780
1箱(25枚)
10日以内出荷
装置テスト用(成膜・レジスト・フォトリソ・エッチングの条件出し評価、パーティクル測定、搬送評価など)
用途装置テスト用仕様熱酸化膜:1,000ű10%サイズ8インチ直径(Φmm)200±0.2タイプ導電型:P型厚さ(μm)725±25仕上Vノッチ、両面成膜抵抗≧1Ω・cm方位100(面)
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