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シリコンウエハー P型 (100)
グローバル・トップ・ケミカル(1件のレビュー)￥6,998～税込￥7,698～1枚当日出荷装置テスト用(条件出し評価、搬送評価など)仕様(パーティクル)不問、(製造)CZ材質シリコン型P型(導電型)グレードダミー(モニター)抵抗値≧1Ωcm製造方法CZ法方位100(面)シリコンウエハー P型 (100)
グローバル・トップ・ケミカル￥89,980～税込￥98,978～1箱(25枚)当日出荷装置テスト用(成膜・レジスト・フォトリソ・エッチングの条件出し評価、パーティクル測定、搬送評価など)型P型(導電型)グレードダミー(モニター)抵抗値≧1Ωcm製造方法CZ法方位100(面)
12インチ シリコンウェハー (両面ミラー・P型・CZ)
グローバル・トップ・ケミカル￥40,980～税込￥45,078～1箱(1枚)ほか当日出荷から10日以内出荷装置テスト用(成膜・レジスト・フォトリソ・エッチングの条件出し評価、パーティクル測定、搬送評価など)用途装置テスト用 仕様0.2μm≦30 サイズ12インチ 直径(Φmm)300±0.2 タイプ製造：CZ、導電型：P型 グレードダミー(モニター)直径(Φmm)300±0.2タイプ製造：CZ、導電型：P型サイズ(inch)12グレードダミー(モニター)抵抗(Ω)≧1・cm仕上Vノッチ、両面ミラー方位100(面)シリコンウエハー 2インチ P型 (100)
グローバル・トップ・ケミカル￥7,798税込￥8,5781枚当日出荷装置テスト用(条件出し評価、搬送評価など)仕様(パーティクル)不問、(製造)CZ材質シリコン型P型(導電型)サイズ2インチ直径(Φmm)50±0.5グレードダミー(モニター)厚さ(μm)280±25仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ抵抗値≧1Ωcm製造方法CZ法方位100(面)
4インチ シリコンウエハー ノンドープ(100) 抵抗値 1000Ω
グローバル・トップ・ケミカル￥14,980税込￥16,4781枚当日出荷装置テスト用(条件出し評価、搬送評価など)用途装置テスト用、ダミー(モニター用)仕様パーティクル等：不問、導電型：ノンドープ、製造：FZ材質シリコンサイズ4インチ直径(Φmm)100±0.5厚さ(μm)525±20仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ抵抗値≧1000Ωcm製造方法FZ法方位面：1003インチ シリコンウエハー P型(100)
グローバル・トップ・ケミカル￥6,498税込￥7,1481枚当日出荷装置テスト用(条件出し評価、搬送評価など)用途装置テスト用、ダミー(モニター用)仕様パーティクル、その他：不問、導電型：P型、製造：CZ材質シリコンサイズ3インチ直径(Φmm)76±0.5厚さ(μm)380±25仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ抵抗値≧1Ωcm製造方法CZ法方位面：1006インチ シリコンウエハー(P型 熱酸化膜加工 1，000A)
グローバル・トップ・ケミカル￥139,800税込￥153,7801箱(25枚)欠品中装置テスト用(成膜・レジスト・フォトリソ・エッチングの条件出し評価、パーティクル測定、搬送評価など)用途装置テスト用、ダミー(モニター用)仕様導電型：P型、製造：CZサイズ6インチ直径(Φmm)150±0.5厚さ(μm)625±25仕上熱酸化膜(両面成膜)、1，000ű10%、オリフラ抵抗値≧1Ωcm方位面：100
