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シリコンウエハー P型 (100)グローバル・トップ・ケミカル￥6,998～税込￥7,698～
1枚
当日出荷
装置テスト用(条件出し評価、搬送評価など)
仕様(パーティクル)不問、(製造)CZ型P型(導電型)グレードダミー(モニター)抵抗値≧1Ωcm方位100(面)
シリコンウエハー 4インチ P型 (100)グローバル・トップ・ケミカル￥89,980税込￥98,978
1箱(25枚)
当日出荷
装置テスト用(成膜・レジスト・フォトリソ・エッチングの条件出し評価、パーティクル測定、搬送評価など)
仕様(パーティクル)0.3μm≦50、(製造)CZ型P型(導電型)サイズ4インチ直径(Φmm)100±0.5グレードダミー(モニター)厚さ(μm)525±25仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ抵抗値≧1Ωcm方位100(面)
シリコンウエハー 2インチ P型 (100)グローバル・トップ・ケミカル￥7,798税込￥8,578
1枚
当日出荷
装置テスト用(条件出し評価、搬送評価など)
仕様(パーティクル)不問、(製造)CZ型P型(導電型)サイズ2インチ直径(Φmm)50±0.5グレードダミー(モニター)厚さ(μm)280±25仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ抵抗値≧1Ωcm方位100(面)
シリコンウエハー 6インチ P型 (100)グローバル・トップ・ケミカル￥109,800税込￥120,780
1箱(25枚)
当日出荷
装置テスト用(成膜・レジスト・フォトリソ・エッチングの条件出し評価、パーティクル測定、搬送評価など)
仕様(パーティクル)0.3μm≦20、(製造)CZ型P型(導電型)サイズ6インチ直径(Φmm)150±0.5グレードダミー(モニター)厚さ(μm)625±25仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ抵抗値≧1Ωcm方位100(面)
シリコンウエハー 2インチ P型 (100)グローバル・トップ・ケミカル￥89,980税込￥98,978
1箱(25枚)
当日出荷
装置テスト用(成膜・レジスト・フォトリソ・エッチングの条件出し評価、パーティクル測定、搬送評価など)
仕様(パーティクル)0.2μm≦30、(製造)CZ型P型(導電型)サイズ2インチ直径(Φmm)50±0.5グレードダミー(モニター)厚さ(μm)280±25仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ抵抗値≧1Ωcm方位100(面)
シリコンウエハー 8インチ P型 (100)グローバル・トップ・ケミカル￥139,400税込￥153,340
1箱(25枚)
8日以内出荷
装置テスト用(成膜・レジスト・フォトリソ・エッチングの条件出し評価、パーティクル測定、搬送評価など)
仕様(パーティクル)0.2μm≦30、(製造)CZ型P型(導電型)サイズ8インチ直径(Φmm)200±0.5グレードダミー(モニター)厚さ(μm)725±25仕上片面ミラー/裏面エッチング、Vノッチ抵抗値≧1Ωcm方位100(面)
