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温度変化による形状の変化が極めて小さい材料を高精度に研磨した基板です。干渉計の原器やニュートン原器に使用することができます。

測定面の平面度の精密測定用です。

マイクロメータの測定面の平面度と平行度の検査に使用します。スピンドルの回転角にもとづずき厚みの異なる4枚1組みとなっています。

測定面の平面度の精密測定用です。

太陽光、白色光、または単色光で同心円の干渉しまが周辺近くまで見ることができます。

マイクロメータの測定面の平面度と平行度の検査に使用します。 スピンドルの回転角にもとづき厚みの異なる4枚1組となっています。

測定器検査用ブロックゲージです。 測定器のご使用前のチェックに。

精密測定機器の総合メーカー・ミツトヨが製作したゲージブロックとして、皆様に安心して使用していただける精度を保証いたします。高度なラッピング技術により、平面度・表面粗さはゲージブロックに求められる最高レベルで生産され、優れた密着性が得られます。 材質がセラブロックの為防錆処理が不要です。鋼製に比べて10倍の摩耗耐性があり、経年劣化がほとんどありません。

精密測定機器の総合メーカー・ミツトヨが製作したゲージブロックとして、皆様に安心して使用していただける精度を保証いたします。高度なラッピング技術により、平面度・表面粗さはゲージブロックに求められる最高レベルで生産され、優れた密着性が得られます。既存商品の校正依頼や受渡しがネットで素早く簡単にできる『再校正サービス』が利用可能な商品です。詳しくは再校正サービスカテゴリーご確認ください。

マイクロメータ検査に適した組み合わせのセットです。既存商品の校正依頼や受渡しがネットで素早く簡単にできる『再校正サービス』が利用可能な商品です。詳しくは再校正サービスカテゴリーご確認ください。

天然石を使用し経年変化がほとんどありません。 鋳鉄に比べ硬度が約2倍で粘りが少ないため、まくれや盛り上がりがありません。 錆の発生がなくメンテナンスが容易です。 熱伝導率が低いため温度変化を受けにくく、平面精度が安定しています。JIS00級。 石場からの一貫生産のため、短納期・低コストを実現。

ガラス基板の両面を平行に研磨した基板です。特注のビームスプリッターや窓などで蒸着膜をコーティングする基板として使用できます。可視、赤外域で使用できるBK7タイプの平行平面基板です。平行度が高いものは、レーザの光路中に垂直に平行平面基板を挿入しても、透過ビームの角度は変わりません。面精度の高いものは、ニュートン原器の代わりとして使用することもできます。裏面反射の影響を防ぐことができる、ウェッジ基板(WSB/WSSQ/WSSQK)もご用意しています。※平行平面基板は表裏面の反射により10%の損失が生じます。※面精度保証データは製品には添付されません。

ABS・INC2つの測長系で能率的な作業ができます。 現場の作業環境を考慮し堅牢な構造になっています。 ディレクションの切換え機能で、一段と応用範囲が広がります。既存商品の校正依頼や受渡しがネットで素早く簡単にできる『再校正サービス』が利用可能な商品です。詳しくは再校正サービスカテゴリーご確認ください。

細粒な組織のため、剛性、耐摩耗性が非常に優れています。天然石そのものがシーズニングがされているため、経年変化の心配がありません。ねばりが少なくカエリや盛り上がりがないので、測定器具の損傷の恐れがありません。JISB7513準拠品

六面加工がしてあります。 検査・測定から工作・組立まで幅広くご使用いただけます。

精密測定機器の総合メーカー・ミツトヨが製作したゲージブロックとして、皆様に安心して使用していただける精度を保証いたします。高度なラッピング技術により、平面度・表面粗さはゲージブロックに求められる最高レベルで生産され、優れた密着性が得られます。既存商品の校正依頼や受渡しがネットで素早く簡単にできる『再校正サービス』が利用可能な商品です。詳しくは再校正サービスカテゴリーご確認ください。

測定器検査用ブロックゲージです。 測定器のご使用前のチェックに。

パテ類を練り合わせる時に使用する平面台です。鉄製の約半分以下の重量のため、パテ練り作業が苦になりません。使用後はヘラに付いたパテを本体の縁で削りとることができます。

最大測定長25mm以上の外側マイクロメータの基点調整用に使用します。既存商品の校正依頼や受渡しがネットで素早く簡単にできる『再校正サービス』が利用可能な商品です。詳しくは再校正サービスカテゴリーご確認ください。

Real Time PCRに適したオプティカル・レンズキャップデザイン

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Real Time PCRに適したオプティカル・レンズキャップデザイン 変形を防ぎ、ナンバリングの目視が容易なチューブ連結部