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グローバル・トップ・ケミカルシリコンウエハー 6インチ P型 (100)
装置テスト用(条件出し評価、搬送評価など)
仕様(パーティクル)不問、(製造)CZ P型(導電型) サイズ6インチ 直径(Φmm)150±0.5 グレードダミー(モニター) 厚さ(μm)625±25 仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ 抵抗値≧1Ωcm 方位100(面)
1枚
7,998 税込8,798
当日出荷

グローバル・トップ・ケミカルシリコンウエハー 6インチ P型 (100)
装置テスト用(成膜・レジスト・フォトリソ・エッチングの条件出し評価、パーティクル測定、搬送評価など)
仕様(パーティクル)0.3μm≦20、(製造)CZ P型(導電型) サイズ6インチ 直径(Φmm)150±0.5 グレードダミー(モニター) 厚さ(μm)625±25 仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ 抵抗値≧1Ωcm 方位100(面)
1箱(25枚)
109,800 税込120,780
当日出荷

装置テスト用(成膜・レジスト・フォトリソ・エッチングの条件出し評価、パーティクル測定、搬送評価など)
用途装置テスト用、ダミー(モニター用) 仕様導電型:P型、製造:CZ サイズ6インチ 直径(Φmm)150±0.5 厚さ(μm)625±25 仕上熱酸化膜(両面成膜)、1,000ű10%、オリフラ 抵抗値≧1Ωcm 方位面:100
1箱(25枚)
139,800 税込153,780
9日以内出荷

研究・開発用として実績があり、高純度材料を用いたウェハーを少量からご提供。
抵抗値0.1~100Ω・cm 製造方法CZ法 位置【OF】110 方位【面】100
1箱(25個)ほか
103,000 税込113,300
5日以内出荷
バリエーション一覧へ (16種類の商品があります)

研究・開発用として実績があり、高純度材料を用いたウェハーを少量からご提供。
仕様●6インチLNウェハ●結晶方位:Y127°●厚み:350±25μm●面状態:両面ポリッシュ●数量:1枚(1箱)●※本製品は半導体向けの結晶材を使用し製造加工しておりますが、材料純度に関する証明等に対応できるものではありません。
1枚ほか
45,600 税込50,160
30日以内出荷から31日以内出荷
バリエーション一覧へ (4種類の商品があります)

1箱(25枚)
100,000 税込110,000
翌々日出荷
バリエーション一覧へ (2種類の商品があります)

グローバル・トップ・ケミカルシリコンウエハー 8インチ P型 (100)
装置テスト用(条件出し評価、搬送評価など)
仕様(パーティクル)不問、(製造)CZ P型(導電型) サイズ8インチ 直径(Φmm)200±0.5 グレードダミー(モニター) 厚さ(μm)725±25 仕上片面ミラー/裏面エッチング、Vノッチ 抵抗値≧1Ωcm 方位100(面)
1枚
8,998 税込9,898
当日出荷

研究・開発用として実績があり、高純度材料を用いたウェハーを少量からご提供。
製造方法CZ法
1箱(25個)ほか
109,800 税込120,780
5日以内出荷から14日以内出荷
バリエーション一覧へ (4種類の商品があります)

使用済みシリコンウェハを再生加工して、再度プロセスに使用できるレベルにまで再生したシリコンウェハです。実験用、教育用など様々な用途に、少量からご提供します。
用途製造プロセス用、研究開発用、実験用、教育用 抵抗値1-100Ω・cm 仕様パーティクル:不問
1枚ほか
5,398 税込5,938
5日以内出荷
バリエーション一覧へ (56種類の商品があります)

研究・開発用として実績があり、高純度材料を用いたウェハーを少量からご提供
仕様(面方位)100、(OF位置)110、パーティクル不問、多様な形状加工と表面処理が可能です(例:ざぐり加工、穴あけ加工、酸化膜付きウェハー) 抵抗値0.1~100Ω・cm※低抵抗:≦0.02Ω・cm、高抵抗:≧500Ω・cm 製造方法CZ法
1枚
8,560 税込9,416
当日出荷から10日以内出荷
バリエーション一覧へ (8種類の商品があります)

グローバル・トップ・ケミカルシリコンウエハー 4インチ P型 (100)
装置テスト用(条件出し評価、搬送評価など)
仕様(パーティクル)不問、(製造)CZ P型(導電型) サイズ4インチ 直径(Φmm)100±0.5 グレードダミー(モニター) 厚さ(μm)525±25 仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ 抵抗値≧1Ωcm 方位100(面)
1枚
6,998 税込7,698
当日出荷



1箱(1枚)ほか
46,050 税込50,655
当日出荷から33日以内出荷
バリエーション一覧へ (56種類の商品があります)

ベアシリコンウェハから半導体素子ができるまでの過程を体感できるセット内容です。教育現場での半導体についての説明などにご利用ください。
用途教育用 セット内容ベアウェハ(12インチ)、膜付きウェハ(12インチ) 、パターン付きウェハ(20mm角)、半導体素子(ダイオード/トランジスタ) 種類セット品
1セット
15,980 税込17,578
5日以内出荷

ウェハーの出荷・保管用の容器です。ウェハーの表を下にして収納します。 ポケットの底は円錘状でウェハーエッジのみ接触します。スプリングでウェハーを固定します。 トレー同士またはトレーとカバーの積み重ねが可能で、トレーは互いに固定して積み重ねることもできます。 オールポリプロピレン製。
材質ナチュラルPP(ポリプロピレン)
1個
429 税込472
当日出荷
バリエーション一覧へ (26種類の商品があります)

1箱(1枚)ほか
52,100 税込57,310
9日以内出荷から58日以内出荷
バリエーション一覧へ (20種類の商品があります)

1箱(1枚)ほか
52,100 税込57,310
9日以内出荷から58日以内出荷
バリエーション一覧へ (21種類の商品があります)

ウエハーと接触する保持部は、フッ素樹脂PTFE製で耐薬品性・耐熱性に優れ基板に傷をつけることを防止します。
1個
99,980 税込109,978
16日以内出荷
バリエーション一覧へ (5種類の商品があります)

グローバル・トップ・ケミカルシリコンウエハー 4インチ P型 (100)
装置テスト用(成膜・レジスト・フォトリソ・エッチングの条件出し評価、パーティクル測定、搬送評価など)
仕様(パーティクル)0.3μm≦50、(製造)CZ P型(導電型) サイズ4インチ 直径(Φmm)100±0.5 グレードダミー(モニター) 厚さ(μm)525±25 仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ 抵抗値≧1Ωcm 方位100(面)
1箱(25枚)
89,980 税込98,978
当日出荷

グローバル・トップ・ケミカルシリコンウエハー 2インチ P型 (100)
装置テスト用(成膜・レジスト・フォトリソ・エッチングの条件出し評価、パーティクル測定、搬送評価など)
仕様(パーティクル)0.2μm≦30、(製造)CZ P型(導電型) サイズ2インチ 直径(Φmm)50±0.5 グレードダミー(モニター) 厚さ(μm)280±25 仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ 抵抗値≧1Ωcm 方位100(面)
1箱(25枚)
89,980 税込98,978
8日以内出荷