高配向性黒鉛 基板 両面劈開 HOPGシリーズ

平坦な劈開面を利用してSTM (走査トンネル顕微鏡) 、AFM (原子間力顕微鏡)用の試料として使われています。
メンディングテープなど押し当て引きはがすとMicaのように薄く剥離し、新鮮な表面を出すことができます。
両面劈開のため、表裏どちらの面からでも劈開できます。