装置テスト用(条件出し評価、搬送評価など)
仕様(パーティクル)不問、(製造)CZ
型P型(導電型)
サイズ6インチ
直径(Φmm)150±0.5
グレードダミー(モニター)
厚さ(μm)625±25
仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ
抵抗値≧1Ωcm
方位100(面)
1枚
¥7,998
税込¥8,798
当日出荷
装置テスト用(条件出し評価、搬送評価など)
仕様(パーティクル)不問、(製造)CZ
型P型(導電型)
サイズ4インチ
直径(Φmm)100±0.5
グレードダミー(モニター)
厚さ(μm)525±25
仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ
抵抗値≧1Ωcm
方位100(面)
1枚
¥6,998
税込¥7,698
当日出荷
装置テスト用(条件出し評価、搬送評価など)
仕様(パーティクル)不問、(製造)CZ
型P型(導電型)
サイズ8インチ
直径(Φmm)200±0.5
グレードダミー(モニター)
厚さ(μm)725±25
仕上片面ミラー/裏面エッチング、Vノッチ
抵抗値≧1Ωcm
方位100(面)
1枚
¥8,998
税込¥9,898
当日出荷
装置テスト用(条件出し評価、搬送評価など)
仕様(パーティクル)不問、(製造)CZ
型P型(導電型)
サイズ2インチ
直径(Φmm)50±0.5
グレードダミー(モニター)
厚さ(μm)280±25
仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ
抵抗値≧1Ωcm
方位100(面)
1枚
¥7,798
税込¥8,578
当日出荷
研究・開発用として実績があり、高純度材料を用いたウェハーを少量からご提供。
抵抗値0.1~100Ω・cm
製造方法CZ法
位置【OF】110
方位【面】100
研究・開発用として実績があり、高純度材料を用いたウェハーを少量からご提供。
製造方法CZ法
装置テスト用(成膜・レジスト・フォトリソ・エッチングの条件出し評価、パーティクル測定、搬送評価など)
仕様(パーティクル)0.2μm≦30、(製造)CZ
型P型(導電型)
サイズ2インチ
直径(Φmm)50±0.5
グレードダミー(モニター)
厚さ(μm)280±25
仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ
抵抗値≧1Ωcm
方位100(面)
1箱(25枚)
¥89,980
税込¥98,978
8日以内出荷
研究・開発用として実績があり、高純度材料を用いたウェハーを少量からご提供。
装置テスト用(成膜・レジスト・フォトリソ・エッチングの条件出し評価、パーティクル測定、搬送評価など)
仕様(パーティクル)0.3μm≦50、(製造)CZ
型P型(導電型)
サイズ4インチ
直径(Φmm)100±0.5
グレードダミー(モニター)
厚さ(μm)525±25
仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ
抵抗値≧1Ωcm
方位100(面)
1箱(25枚)
¥89,980
税込¥98,978
欠品中
装置テスト用(条件出し評価、搬送評価など)
用途装置テスト用、ダミー(モニター用)
仕様パーティクル、その他:不問、導電型:P型、製造:CZ
サイズ3インチ
直径(Φmm)76±0.5
厚さ(μm)380±25
仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ
抵抗値≧1Ωcm
方位面:100
1枚
¥6,498
税込¥7,148
9日以内出荷
使用済みシリコンウェハを再生加工して、再度プロセスに使用できるレベルにまで再生したシリコンウェハです。実験用、教育用など様々な用途に、少量からご提供します。
用途製造プロセス用、研究開発用、実験用、教育用
抵抗値1-100Ω・cm
仕様パーティクル:不問
海外製造のシリコンウエハーです。製造年月は不問となります。
用途研究開発・ダミー用
仕様TTV:0.8≦/μm、WARP:20≦/μm、面方位:100
その他メーカー保証無し、および記載なきスペックは不問
長さ(mm)オリフラ:57.5±2.5
直径(Φmm)200.0±0.2
タイプP
入数(枚)25
厚さ(μm)725±10
仕上両面ミラー
抵抗値(Ω)16~24cm
1ケース(25枚)
¥65,980
税込¥72,578
8日以内出荷
研究・開発用として実績があり、高純度材料を用いたウェハーを少量からご提供
仕様(面方位)100、(OF位置)110、パーティクル不問、多様な形状加工と表面処理が可能です(例:ざぐり加工、穴あけ加工、酸化膜付きウェハー)
抵抗値0.1~100Ω・cm※低抵抗:≦0.02Ω・cm、高抵抗:≧500Ω・cm
製造方法CZ法
装置テスト用(条件出し評価、搬送評価など)
用途装置テスト用、ダミー(モニター用)
仕様パーティクル等:不問、導電型:ノンドープ、製造:FZ
サイズ4インチ
直径(Φmm)100±0.5
厚さ(μm)525±20
仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ
抵抗値≧1000Ωcm
方位面:100
1枚
¥14,980
税込¥16,478
15日以内出荷
装置テスト用(成膜・レジスト・フォトリソ・エッチングの条件出し評価、パーティクル測定、搬送評価など)
仕様(パーティクル)0.2μm≦30、(製造)CZ
型P型(導電型)
サイズ8インチ
直径(Φmm)200±0.5
グレードダミー(モニター)
厚さ(μm)725±25
仕上片面ミラー/裏面エッチング、Vノッチ
抵抗値≧1Ωcm
方位100(面)
1箱(25枚)
¥139,400
税込¥153,340
7日以内出荷
装置テスト用(成膜・レジスト・フォトリソ・エッチングの条件出し評価、パーティクル測定、搬送評価など)
仕様(パーティクル)0.3μm≦20、(製造)CZ
型P型(導電型)
サイズ6インチ
直径(Φmm)150±0.5
グレードダミー(モニター)
厚さ(μm)625±25
仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ
抵抗値≧1Ωcm
方位100(面)
1箱(25枚)
¥109,800
税込¥120,780
当日出荷
装置テスト用(成膜・レジスト・フォトリソ・エッチングの条件出し評価、パーティクル測定、搬送評価など)
用途装置テスト用、ダミー(モニター用)
仕様パーティクル:0.3μm≦20、導電型:P型、製造:CZ
サイズ3インチ
直径(Φmm)76±0.5
厚さ(μm)380±25
仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ
抵抗値≧1Ωcm
方位面:100
1箱(25枚)
¥68,980
税込¥75,878
9日以内出荷
装置テスト用(成膜・レジスト・フォトリソ・エッチングの条件出し評価、パーティクル測定、搬送評価など)
用途装置テスト用、ダミー(モニター用)
仕様パーティクル:0.3μm≦10、導電型:ノンドープ、製造:FZ
サイズ4インチ
直径(Φmm)100±0.5
厚さ(μm)525±20
仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ
抵抗値≧1000Ωcm
方位面:100
1箱(25枚)
¥189,800
税込¥208,780
15日以内出荷
装置テスト用(成膜・レジスト・フォトリソ・エッチングの条件出し評価、パーティクル測定、搬送評価など)
用途装置テスト用、ダミー(モニター用)
仕様導電型:P型、製造:CZ
サイズ6インチ
直径(Φmm)150±0.5
厚さ(μm)625±25
仕上熱酸化膜(両面成膜)、1,000ű10%、オリフラ
抵抗値≧1Ωcm
方位面:100
1箱(25枚)
¥139,800
税込¥153,780
9日以内出荷
ベアシリコンウェハから半導体素子ができるまでの過程を体感できるセット内容です。教育現場での半導体についての説明などにご利用ください。
用途教育用
セット内容ベアウェハ(12インチ)、膜付きウェハ(12インチ) 、パターン付きウェハ(20mm角)、半導体素子(ダイオード/トランジスタ)
種類セット品
1セット
¥15,980
税込¥17,578
5日以内出荷
汎用的な成膜用基板として使用されています。
ウェハーの出荷・保管用の容器です。ウェハーの表を下にして収納します。
ポケットの底は円錘状でウェハーエッジのみ接触します。スプリングでウェハーを固定します。
トレー同士またはトレーとカバーの積み重ねが可能で、トレーは互いに固定して積み重ねることもできます。
オールポリプロピレン製。
材質ナチュラルPP(ポリプロピレン)
デリケートなシリコンウエハー用に作られたもので、薄い雲母のような壊れやすいものの取り扱いに最適。ハンドル部ギザクリップ付。表面は滑らかでツヤ消し。さまざまのサイズがあり、必要に応じで選択可能。非磁性、耐酸性
デリケートなシリコンウエハー用に作られたもので、薄い雲母のような壊れやすい物の取り扱いに最適。ハンドル部ギザクリップ付。表面は滑らかでつや消し。サイズが豊富なので、必要に応じて選択できます。非磁性、耐酸性。
金属の研磨面など高光沢領域の表面仕上り状態を明確に数値化します。2レンジ切り替えで低光沢も測定可能です。現場向けの小型、軽量設計です。金属研磨面の仕上り確認に。金属圧延板の外観確認に。メッキ製品の外観確認に。シリコンウエハの表面仕上り確認に。
長さ(mm)(OF)47.5±2.5
抵抗値0.1~100Ω・cm
製造方法CZ法
位置(OF)110
方位(面)100
ウェハー厚(μm)625±25
バーライト2本、本体2個を並列に装着する事が可能なスタンドです。
シングルスタンドと比較して、横方向の照射範囲が2倍になります。
用途塗装面、メッキ面のキズ、ムラの検品。
プラスチック、ゴム成形部品の表面のヒゲ凹凸の検品。
ガラス、プラスチック板の表面に付着したホコリの検品。
切削加工や糸ノコ作業等におけるケガキ線の証明。
凹凸エンボス等ののキズ、ムラの検査。
シリコンウエハーの異物、キズ検査。
バーライト2用のスタンドです。
材質鉄、アルミ、プラスティック
トラスコ品番848-1880
外形寸法(奥行D×幅W×高さH)(mm)129×129×187
アズワン品番64-4388-62
1個
¥24,980
税込¥27,478
当日出荷
・ガスバリヤ性の非常に優れたクラレ二軸延伸エバールフィルムEF-XLとホットタック性、ヒートシール強度などの優れたL-LDPEを組み合わせることで高い水準の密封性を持っています。・優れたガスバリヤ性とヒートシール性で以下「食品の酸化・腐蝕・劣化の防止」「冷蔵、冷凍室での臭い・香りの防止」「ガス充填包装・脱酸素剤使用包装」に対応します。・IAシリーズ:真空脱気アルミ箔包装材・アルミラミネート袋ですので、UVカット、遮光、感光防止、酸化防止の包装に対応します。・防湿性、ガスバリア性に優れています。・工業用途、食品用途、医療用途において、固体、粉体、液体を問わず幅広い分野にお使いいただけます。・左右Vノッチ付ですので開封が簡易に行えます。・脱酸素剤や乾燥材との併用に適しています。・IGNシリーズ:静電気対策包装材。ハードディスクメディア/シリコンウェハー等を湿気、パーティクルを防ぐための包装に適しています。・クリーンルーム内で製造/洗浄を行うトレー/ケースなどの電子部品輸送容器の包装にお使いいただけます。・クリーンルームにて加工を行っているため、袋内面への塵・埃の付着が少なくハイレベルのクリーン性を実現しています。・ナイロンを使用しており、優れた耐ピンホール性があり、搬送中の容器の角等によるピンホールを防止します。・中身が見えるため、製品の確認が可能です。・IGZシリーズ:ウエハーボックス用包装材、ハードディスクメディア、シリコンウェハー等を湿気、パーティクルから保護するための包装に適しています。・クリーンルーム内で製造/洗浄を行うトレー・ケースなどの電子部品輸送容器の包装にお使いいただけます。・アルミ層とアルミ蒸着層の二重のバリア層により、内容物を湿気から保護します。・クリーンルームにて加工を行っているため、袋内面への塵・埃の付着が少なくハイレベルのクリーン性を実現しています。・ナイロンを使用しており、優れた耐ピンホール性があり、搬送中の容器の角等によるピンホールを防止します。
仕様●センサータイプ : 絶対圧力センサkPa●実装タイプ : 表面実装●パッケージタイプ : HLGA●ピン数 : 10●寸法 : 2.5×2.5×0.8mm●最高使用圧力 : 126kPa●動作供給電圧 Max : 3.6 V●動作温度 Max : +105 ℃●出力電圧 Max : 6.7 V●最低使用圧力 : 26kPa●出力電圧 Min : 5.7 V●MEMS圧力センサ: デジタル気圧計、STMicroelectronics. この製品は、高分解能検出素子と組み込み温度補償を備えた超コンパクトな絶対ピエゾ抵抗圧力センサです。デジタル圧力、温度データ、レジスタ制御通信は、 SPI 及び I 2 C インターフェイスを介して行われます。圧力センサは「 ST の VENSENS 技術」を採用した設計になっており、モノリシックシリコンチップ上に圧力センサを製造できます。これにより、ウエハーとウエハーの結合が排除され、信頼性が最大限に向上します。 この圧力センサは、革新的な MEMS (マイクロ電子機械システム)を採用しており、超小型で薄型のパッケージで非常に高い圧力分解能を実現しています。圧力センサは、タブレット、スマートフォン、及びウェアラブル技術でますます使用されるようになっています。スマートフォンでの普及が進み、気象アナライザ、健康モニタ、スポーツモニタなどの新しい用途への扉が開きます。. 主な技術的特長:強化された温度補償 絶対圧力の範囲は 260 ~ 1260 hPa です 消費電力を低減し、 4 μ A 未満 1pA RMS より低い圧力ノイズ 内蔵 FIFO
RoHS指令(10物質対応)対応
1袋(2個)
¥1,798
税込¥1,978
7日以内出荷
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