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測定範囲(mm)
- 0～2.5
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電磁式プローブケツト科学研究所￥109,800税込￥120,780
1本
3日以内出荷
膜厚計L-500用新開発プローブ 電磁式プローブ(磁性金属素地用)
測定方式電磁誘導式測定精度15μm未満±0.3μm/15μm以上1、000μm未満±2%/1、000μm以上±3%対応機種膜厚計 L-500測定対象磁性金属上の非磁性被膜測定範囲(μm)0 ～ 2、500または99.0mils
L-500用電磁式プローブケツト科学研究所￥139,800税込￥153,780
1本
8日以内出荷
膜厚計L-500用新開発プローブ電磁式プローブ(磁性金属素地用)アプリケーションメモリを50本まで保存L字型
測定方式電磁誘導式測定精度15μm未満±0.3μm/15μm以上1000μm未満±2%/1000μm以上±3%対応機種膜厚計 L-500測定対象磁性金属上の非磁性被膜測定範囲(μm)0 ～ 2500または99.0mils
L-500用電磁式プローブケツト科学研究所￥239,800税込￥263,780
1本
8日以内出荷
膜厚計L-500用新開発プローブ電磁式プローブ(磁性金属素地用)アプリケーションメモリを50本まで保存パイプ内面測定用
測定方式電磁誘導式測定精度15μm未満±0.3μm/15μm以上1000μm未満±2%/1000μm以上±3%対応機種膜厚計 L-500測定対象磁性金属上の非磁性被膜測定範囲(μm)0 ～ 2500または99.0mils
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