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3インチ シリコンウエハー P型(100)
グローバル・トップ・ケミカル￥6,498税込￥7,1481枚当日出荷装置テスト用(条件出し評価、搬送評価など)用途装置テスト用、ダミー(モニター用)仕様パーティクル、その他：不問、導電型：P型、製造：CZ材質シリコンサイズ3インチ直径(Φmm)76±0.5厚さ(μm)380±25仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ抵抗値≧1Ωcm製造方法CZ法方位面：1006インチ シリコンウエハー(P型 熱酸化膜加工 1，000A)
グローバル・トップ・ケミカル￥139,800税込￥153,7801箱(25枚)9日以内出荷装置テスト用(成膜・レジスト・フォトリソ・エッチングの条件出し評価、パーティクル測定、搬送評価など)用途装置テスト用、ダミー(モニター用)仕様導電型：P型、製造：CZサイズ6インチ直径(Φmm)150±0.5厚さ(μm)625±25仕上熱酸化膜(両面成膜)、1，000ű10%、オリフラ抵抗値≧1Ωcm方位面：100
4インチシリコンウエハー P型 抵抗値0．02Ω
グローバル・トップ・ケミカル￥14,980～税込￥16,478～1箱10日以内出荷から49日以内出荷装置テスト用(条件出し評価、搬送評価など)用途装置テスト用、ダミー(モニター用)型P型(導電型)サイズ4インチ備考その他スペック不問厚さ(μm)525±25仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ抵抗値0.01～0.02Ωcm直径(mm)100±0.5製造方法CZ方位100面2インチ シリコンウエハー ノンドープ(100) 抵抗値 1，000Ω
グローバル・トップ・ケミカル￥109,800税込￥120,7801箱30日以内出荷装置テスト用(条件出し評価、搬送評価など)用途装置テスト用、ダミー(モニター用)仕様パーティクル：0.3≦10型ノンドープ(導電型)サイズ2インチ備考その他スペック不問入数(枚)25(箱)厚さ(μm)280±25仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ抵抗値≧1，000Ωcm直径(mm)50±0.5製造方法FZ方位100面
2インチ シリコンウエハー ノンドープ(100) 抵抗値 1，000Ω
グローバル・トップ・ケミカル￥9,998税込￥10,9981箱17日以内出荷装置テスト用(条件出し評価、搬送評価など)用途装置テスト用、ダミー(モニター用)仕様パーティクル不問型ノンドープ(導電型)サイズ2インチ備考その他スペック不問入数(枚)1(箱)厚さ(μm)280±25仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ梱包内容枚葉ケース梱包抵抗値≧1，000Ωcm直径(mm)50±0.5製造方法FZ方位100面3インチ シリコンウエハー P型(100)
グローバル・トップ・ケミカル￥68,980税込￥75,8781箱(25枚)8日以内出荷装置テスト用(成膜・レジスト・フォトリソ・エッチングの条件出し評価、パーティクル測定、搬送評価など)用途装置テスト用、ダミー(モニター用)仕様パーティクル：0.3μm≦20、導電型：P型、製造：CZサイズ3インチ直径(Φmm)76±0.5厚さ(μm)380±25仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ抵抗値≧1Ωcm方位面：1004インチ シリコンウエハー ノンドープ(100) 抵抗値 1000Ω
グローバル・トップ・ケミカル￥189,800税込￥208,7801箱(25枚)15日以内出荷装置テスト用(成膜・レジスト・フォトリソ・エッチングの条件出し評価、パーティクル測定、搬送評価など)用途装置テスト用、ダミー(モニター用)仕様パーティクル：0.3μm≦10、導電型：ノンドープ、製造：FZ材質シリコンサイズ4インチ直径(Φmm)100±0.5厚さ(μm)525±20仕上片面ミラー/裏面エッチング、オリフラ抵抗値≧1000Ωcm製造方法FZ法方位面：100
8インチ シリコンウェハー(熱酸化膜加工 1，000A)
グローバル・トップ・ケミカル￥179,800税込￥197,7801箱(25枚)10日以内出荷装置テスト用(成膜・レジスト・フォトリソ・エッチングの条件出し評価、パーティクル測定、搬送評価など)用途装置テスト用仕様熱酸化膜：1，000ű10%サイズ8インチ直径(Φmm)200±0.2タイプ導電型：P型厚さ(μm)725±25仕上Vノッチ、両面成膜抵抗≧1Ω・cm方位100(面)
![15×15mm Si シリコン 研究用[P 100 ，1-100Ω]ダイシング チップ 角基板 アズワン](https://jp.images-monotaro.com/Monotaro3/pi/middle/mono05087261-241204-02.jpg "15×15mm Si シリコン 研究用[P 100 ，1-100Ω]ダイシング チップ 角基板 アズワン")
